I3/A17. IEC校正又叫干扰元素校正,当待测元素各分析线均有干扰,如以下情况:
或者当元素浓度很低,必须使用最灵敏线进行测试而该分析线又存在谱线干扰时,可以使用IEC校正。原理是:配制干扰元素的标样,测量其在待测元素干扰分析线上的干扰强度,以及干扰元素在其自身分析线下的强度,测定样品时,测到样品中干扰元素其自身分析线下的强度,软件会根据测得的这三个强度自动算出样品中干扰元素在待测元素分析线下的干扰强度,然后计算校正系数
校正结果 = 分析元素测定值 – 干扰元素测定值 × 干扰系数
具体的操作可参考软件操作说明书。