观察电极和隔膜的内部结构（X射线CT）

X射线透视装置提供非破坏的方式观察物体内部构造。它能够有效地找到工业产品的失效原因。

通过这种便捷的非破坏方法，得到计算机断层图像和3D结构图像，来观察物体的内部结构、进行尺寸测量和密度检测。这些装置成为失效分析和质量控制的强大工具。

以下图片是电极和隔膜的任意断面图像。

微焦点X射线CT装置 inspeXioSMX-225CT

工业用X射线CT装置可以将非破坏的检测方法用于观察物体内部结构。亚微米级别的CT装置能够更加清楚地观察结构复杂的电子元器件的内部构造。在电池行业，这种装置可用于工艺的后期质量控制。