XPS &UPS&REELs技术联用表征聚合物材料
2020年8月20日
在常规XPS分析中,不同的聚合物材料可能会出现测试得到的C 1s谱图相似,较难区分。等离子特征峰(如π-π*跃迁)虽然可提供与材料中的sp2碳杂化相关的信息,但也可能会被其他化学态的碳物种掩盖。本文采用AXIS SUPRA+仪器的X射线光电子能谱(XPS)、紫外光电子能谱(UPS)及反射电子能量损失谱(REELs)联用技术对不同聚合物材料进行了分析。
- 内容类型:
- 应用报告
- 文章编号:
- MO457
- 产品类型:
- X射线光电子能谱仪
- 语言:
- 中文
- 更新时间:
- 2020年08月20日
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