XPS &UPS&REELs技术联用表征聚合物材料

2020年8月20日

在常规XPS分析中,不同的聚合物材料可能会出现测试得到的C 1s谱图相似,较难区分。等离子特征峰(如π-π*跃迁)虽然可提供与材料中的sp2碳杂化相关的信息,但也可能会被其他化学态的碳物种掩盖。本文采用AXIS SUPRA+仪器的X射线光电子能谱(XPS)、紫外光电子能谱(UPS)及反射电子能量损失谱(REELs)联用技术对不同聚合物材料进行了分析。
内容类型:
应用报告
文章编号:
MO457
产品类型:
X射线光电子能谱仪
语言:
中文
更新时间:
2020年08月20日

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