采用XPS分析有机物的化学键状态

XPS（X射线光电子能谱分析：X-ray Photoelectron Spectroscopy）是一种除能够对物质表面约10nm处存在的元素进行定性/定量分析外，还能够分析化学键状态的表面分析方法。物质的化学键状态是决定材料特性的重要因素，XPS被广泛运用于表面改性的分析、树脂劣化试验的评估，以及电子部件的故障分析等情况。为进行高准确度的化学键状态分析，需要具有高能量分辨率的谱图。本文将为大家介绍使用具有能量分辨率的KRATOS ULTRA2TM 测定的有机物的实例。