岛津XPS技术表征石墨烯薄膜的厚度

2021年3月16日

石墨烯在材料学、微纳加工、能源、生物医学和药物传递等方面具有重要的应用前景。本文通过XPS（X射线光电子能谱）成像对Si片上沉积的石墨烯进行了分析，通过选区采谱对石墨烯表面元素含量进行了分析，并对石墨烯薄片厚度进行了推测。
内容类型:
应用报告
文章编号:
XPS-024_x000D_ _x000D_
产品类型:
X射线光电子能谱仪
语言:
中文
更新时间:
2021年03月16日

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