電子基板の不良解析（FTIR)
2024年12月30日
電子基板上の異物やシミは導電不良の原因となり，再発防止のためには原因物質を明らかにすることが重要になります。
今回，不良解析に特化したAIM-9000自動不良解析システムを用いて電子基板上で発見された異物の定性を行いましたのでご紹介します。
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