sys_admin 在 星期一, 08/16/2021 - 09:36 提交
近年来,随着陶瓷技术变革和新兴领域如智能汽车、物联网、无人机、数据中心等的迅速发展,电子陶瓷产品应用领域不断扩大,从而扩大了电子陶瓷方面对X射线荧光光谱仪的应用需求。本文使用岛津EDX-7000能量色散型X射线荧光光谱仪建立了应对电子陶瓷方面的定性定量分析方法。该方法无需化学前处理、分析过程无污染,操作方便快捷,快速无损分析,准确度和稳定性好,应用广泛,实用性强。
sys_admin 在 星期一, 08/16/2021 - 09:24 提交
锡铅钎料是电子电器行业广泛使用的材料,GB/T 3131-2020《锡铅钎料》中对锡铅钎料的牌号和化学成分做了规定。本文使用EDX-7000对锡铅钎料(SnPbAg 系列,包含SnPb、SnPbAg)的化学成分进行了分析实验,结果显示分析元素检测下限满足《锡铅钎料》标准限值要求,主要组成元素Sn、Pb、Ag的短期分析稳定性优于0.4%,主要组成元素Sn、Pb、Ag的分析结果与光电直读光谱仪分析结果比较,误差优于0.3%,可应用于锡铅钎料(SnPbAg 系列)的型号筛选分析判定。
sys_admin 在 星期五, 07/16/2021 - 13:25 提交
2020年3月4日,中国国家标准化委员会颁布了9项国家强制性标准(GB),以限制产品中所含挥发性有机化合物(VOC)等有害物质的含量,对涂料、粘合剂、油墨和清洁剂的含量限制进行了标准化。除了中国国内的企业之外,还要求制造面向中国的产品的日本国内企业响应该监管措施。中国城市建设仍在稳步推进,建筑内墙涂料的需求也在增长。内墙涂料通常由水、颜料、乳液和填料构成,涂料中所含的重金属可能对环境和人体产生不利影响,因此,标准GB 18582-2020“建筑墙面用涂料中有害物质限量” 中设定了使用限量的监管标准(实施日期:2020年12月1日)。本文介绍使用EDX-7000对受VOC监管的4种重金属元素进行筛选分析,而无需进行化学预处理。
sys_admin 在 星期一, 07/12/2021 - 14:35 提交
皮革制品为日常生活中的人体接触商品,其中含有的重金属可通过皮肤接触的途径而迁移至人体中,从而在人体中存在累积效应造成慢性中毒,具有长期的危害性。本文参考SN/T 5231-2019《皮革 重金属(铅、镉、汞、铬)筛选方法 能量色散X荧光光谱法》标准,使用岛津EDX(能量色散型X射线荧光光谱仪)筛选分析皮革制品中的重金属(铅、镉、汞、铬),具有快速无损、分析准确度好的优点,适用于皮革制品的重金属筛选分析。
sys_admin 在 星期五, 06/18/2021 - 16:48 提交
为贯彻《中华人民共和国环境保护法》,防止土壤污染,保护生态环境,保障农林生产,维护公众健康,国家对原国家标准《土壤环境质量标准》(GB/T15618-1995)进行了修改,到2017年已进行了第三次征求意见稿了,农用地土壤污染物控制项目也由10项增加到21项,在原有限量项目的基础上增加了其他项目的总锰、总钴、总锶、总钒、总铊、总钼等参考含量限量,因此对土壤及土壤固废限量元素的监测分析越来越重要。而岛津EDX荧光光谱仪可对土壤限量元素及常规元素进行简单快捷的初步筛选分析。该方法操作简便,分析快速,重复性好,是一种行之有效的测试方法。
sys_admin 在 星期五, 06/18/2021 - 13:25 提交
对原料药生产过程中发现的两种异物,使用EDX和FTIR进行了成分分析。为了追查异物来源,在生产环节中找到一些可能来源物,将其和异物成分进行匹配,鉴定异物的来源。
sys_admin 在 星期五, 06/18/2021 - 13:22 提交
使用岛津EDX和FTIR对原料药中筛出的异物颗粒进行了测试,同时结合客户提供的疑似来源物,通过两种技术手段快速准确地确定了异物的来源。
sys_admin 在 星期五, 06/18/2021 - 13:18 提交
对怀疑仿冒的橡胶制品使用岛津能量色散X射线荧光和红外光谱仪进行测试,结合岛津EDXIR软件对正品建立数据库,通过软件给出的匹配度数据,可以快速可靠的鉴别仿冒品。
sys_admin 在 星期五, 06/18/2021 - 13:12 提交
为了保证安全健康,使用安全优质的味碟原材料的重要性不言而喻。本文结合傅里叶红外光谱(FTIR)和能量色散性X射线荧光光谱(EDX)对和食物接触的味碟成分进行了全面分析,通过有机和无机结合的方式达到了对味碟原料进行成分监控的目的。
sys_admin 在 星期五, 06/18/2021 - 11:51 提交
离型膜表面涂布的离型剂,可以有效降低离型膜的剥离力。离型膜中离型剂的涂布量,影响到离型膜的离型效果、生产成本、涂布质量等。能量色散型X射线荧光光谱仪,通过分析离型膜表面涂布的含硅离型剂中的硅的强度,计算得到含硅离型剂涂布量与硅测试强度的曲线,可用于离型膜表面离型剂涂布量的分析。该分析方法具有分析灵敏度高,分析数据稳定,分析准确度好的优点,分析过程无损快速,分析样品无需特别处理,适用于生产质量控制分析。
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