应用XRD薄膜附件测试ITO膜晶体结构

铟锡氧化物(ITO)薄膜是性能最为优异的透明导电薄膜。薄膜的结晶状态极大的影响薄膜的导电性能和透光性能。本文使用岛津X射线衍射仪,配置薄膜附件,测试了透明导电氧化物ITO薄膜,比较了两种不同的衍射几何得到的XRD谱图,结果表明掠入射非对称衍射几何可以得到更佳信噪比的谱图。物相解析结果表明,ITO膜为体心立方结构,与In2O3结构相同。膜层结晶良好,呈现多晶状态,还存有一定的(100)择优取向。这个例子充分展示了岛津XRD薄膜附件在薄膜样品分析中的优势。

锂电池三元正极材料前驱体的XRD表征

三元正极材料前驱体的制备很大程度上决定了锂离子正极材料的形貌与结构,并进而影响电池电化学性能。本文使用岛津X射线衍射仪测试了三元正极材料的前驱体样品(Ni,Co,Mn)(OH)2,并进行了物相解析, 结果表明该样品产物为单一相的β-Ni(OH)2层状结构,对得到的数据完成了Rietveld精修,拟合结果良好,Rwp=8.3%。通过Rietveld精修直接获得准确的晶格常数等物理量,并且该材料的晶粒尺寸显示各向异性。类似的步骤可以拓展用于锂电池正极材料的研发和质量控制工作。

氧化锆陶瓷的Rietveld精修

由于相变增韧效果,氧化锆陶瓷在工程陶瓷中有着广泛的应用。本文使用岛津X射线衍射仪配置Onesight一维阵列探测器测试了氧化锆陶瓷粉料,物相分析结果显示其中含有氧化锆单斜相和四方相。使用MAUD软件完成了Rietveld精修,拟合结果良好,Rwp为1.7%。通过Rietveld精修直接完成了物相的无标样定量,获得了各物相的晶格常数、晶粒尺寸等物理量,这些物理量对于研究和开发综合力学性能优良的氧化锆陶瓷非常重要。

粉末X射线衍射用于药物晶型鉴定

固体药物的晶型是影响药物临床疗效、稳定性与质量可控性的重要因素。本文使用岛津X射线衍射仪,按照中国药典要求,通过谱图定性比较和定量的峰位计算,给出了药物晶型鉴定的范例,类似的步骤可以拓展用于很多仿制药和创新药涉及晶型药物研发和质量控制的工作。

岛津XRD测试碳纤维取向度

纤维材料分子链、微晶择优取向的程度对纤维的机械强度、弹性模量及其它机械性能有着直接影响,是纤维材料重要的指标之一。针对纤维取向度测试,岛津X射线衍射分析法(XRD)纤维取向度专用附件可方便、迅捷的对聚合物等纤维材料取向度进行测定,本文以某碳纤维材料为例对纤维材料取向度进行了测定,结果显示该碳纤维材料取向度为83.7%。该方法可拓展用于其它各类聚合物纤维材料的取向度测定工作。

XRD定量分析钛白粉物相含量作业指导书(SOP)

GB/T30893-2014 X-射线衍射法测定二氧化钛颜料中锐钛矿与金红石比率GB/T 5225-1985 金属材料定量相分析 X射线衍射K值法

钢帘线黄铜镀层物相分析

钢帘线在热扩散电镀黄铜过程中,可能会形成硬脆的β-黄铜相,当β-黄铜相含量较高时,极易导致在后续的湿拉过程中出现断丝。本文使用岛津XRD-7000测试了某钢帘线样品,对钢帘线镀层进行了物相解析,并对得到的谱图进行了Rietveld精修,拟合结果良好,Rwp为5.4%,通过精修给出了镀层中各物相的含量。这些结果对于指导钢帘线电镀工艺优化或镀层质量评价有着重要意义。

生物医用材料羟基磷灰石的XRD表征

本文使用岛津XRD-7000衍射仪测试了生物医用材料羟基磷灰石粉末,并对得到的数据进行了物相解析,实验结果表明该样品为纯相六方羟基磷灰石,没有明显的杂质相;使用MAUD软件完成了Rietveld精修,拟合结果良好,Rwp值为9.9%,通过Rietveld精修可得到准确的晶胞参数和晶粒尺寸等与羟基磷灰石的生物活性密切相关的参数,可方便为羟基磷灰石材料的研发和质量控制提供参考。

铂碳催化剂的表征

本文使用岛津多机种对铂碳催化剂进行了表征,使用X射线衍射仪(XRD)进行了物相分析,给出样品中Pt赋存状态和平均晶粒尺寸;使用电子探针显微分析仪(EPMA)观察催化剂的形貌,通过背散射电子像观察到Pt存在一定的团聚现象并给出元素成分;使用X射线光电子能谱仪(XPS)分析了样品表面的元素组成和价态,结果表明Pt以金属单质形态存在。以上结果之间可互相印证,从不同角度提供了样品组成信息,可为碳催化剂及相关催化剂品种的制备研发、质量控制和失效分析等提供数据支撑。

掺杂磷酸铁锂正极材料的XRD表征

LiFePO4正极材料具有成本低、稳定性好、循环寿命长、环境友好等众多优势,是当前主流的锂电正极材料之一,在电动汽车和储能市场获得了广泛的应用。本文使用岛津X射线衍射仪测试了掺Al磷酸铁锂正极材料,对测得的数据进行了物相解析,使用MAUD软件完成了Rietveld精修,拟合结果良好,Rwp值为7.7%,通过Rietveld精修得到与磷酸铁锂电性能密切相关的晶胞参数和晶粒尺寸,为磷酸铁锂电极材料的研发和质量控制提供参考。

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