红外显微镜对具有后的的样品进行反射测量

2018年5月11日

使用自动缺陷分析系统AIM-9000进行测量时，通常能将厚度不超过约10 mm的样品设置在载物台上，但通过取下下部卡塞格伦镜（聚光反射镜），可对最大厚度为40 mm的样品进行反射和ATR测量。在此，本文对厚度为10 mm以上的样品进行反射测量进行介绍。
内容类型:
应用报告
文章编号:
A541
产品类型:
光谱仪
语言:
中文
文件名:
AP_GADC_AP-News_JP_A541OK.pdf
更新时间:
2018年05月11日

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