单次反射ATR法测定高分子薄膜

2017年8月29日

衰减全反射（ATR）是傅立叶变换红外光谱外仪中应用最为广泛的附件，尤其是测定高分子材料领域的样品时，更显出独特的应用价值。本文以实际样品测定为例，介绍了使用单次反射ATR附件分析高分子多层膜及薄膜表面涂层的方法。
内容类型:
应用报告
文章编号:
FTIR-007
产品类型:
傅立叶变换红外光谱仪
关键字:
FTIR,衰减全反射（ATR）,高分子薄膜
语言:
中文
文件名:
AP_News_FTIR-007C.pdf
文件大小:
783
更新时间:
2017年08月29日

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