傅立叶变换红外光谱分析在半导体行业及其晶体材料结构、成分分析和杂质缺陷特性研究等方面起到了较大的作用。本文以实际测定为例，介绍了使用岛津IRAffinity-1测定半导体材料硅的透射率，并根据国标计算半导体材料硅中的氧碳含量。
- 内容类型:
- 应用报告
- 文章编号:
- FTIR-017
- 产品类型:
- 傅立叶变换红外光谱仪
- 关键字:
- 红外光谱,太阳能,半导体材料,硅,氧碳含量
- 语言:
- 中文
- 文件名:
- AP_News_FTIR-017-G.pdf
- 文件大小:
- 1065
- 更新时间:
- 2017年08月29日
傅立叶变换红外光谱分析在半导体行业及其晶体材料结构、成分分析和杂质缺陷特性研究等方面起到了较大的作用。本文以实际测定为例，介绍了使用岛津IRAffinity-1测定半导体材料硅的透射率，并根据国标计算半导体材料硅中的氧碳含量。