建立SPM的新测量方法 ZXY测量-克服不擅长的测量

2020年8月12日

为保证探针‐样品之间恒定的相互作用力,SPM一般采用对样品表面进行扫描的“XY测量”方法获取数据。XY测量具有扫描速度快、平面分辨率高的特点,是各种测量模式的基础。但是,SPM同时也存在对“广视野”、“柔软样品”、“起伏大的样品” 测量困难的缺点。我们已经成功开发了“ZXY测量”以克服这些缺点,现报告如下。
内容类型:
应用报告
文章编号:
S47_x000D_
产品类型:
原子力显微镜/扫描探针显微镜
语言:
中文
更新时间:
2020年08月12日

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