光学元件上微小异物的测定–采用红外显微镜AIM-9000 进行扫描和识别

2017年2月06日

岛津公司的异物自动分析系统(红外显微镜)AIM-9000 采用将微小部分作为测定目标的光学设计,可以在短时间内获得微米级异物的清晰光谱。本文向您介绍使用本系统对光学元件表面附着的约10μm微小异物进行测定的示例。
内容类型:
应用报告
文章编号:
LAAN-A-FT-C017
产品类型:
傅立叶变换红外光谱仪
关键字:
异物自动分析系统,红外显微镜,AIM-9000,光学元件,微小异物
语言:
中文
文件名:
20170207_ftir_food_000567cn.pdf
文件大小:
425
更新时间:
2017年02月06日

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