用电感耦合等离子发射光谱法（ICP-AES）同时测定了高纯铜中的多种杂质元素P, Mn, Fe, Ni, Zn, As, Se, Ag, Cd, Sn, Sb。优化仪器的工作条件，以基体匹配法配制工作曲线标样，有效地消除了基体干扰。方法简便、可满足工业分析要求。检出限为0.000004-0.0001%，回收率在85.9-105%范围内。
- 内容类型:
- 应用报告
- 文章编号:
- ICP-001C
- 产品类型:
- 等离子体发射光谱仪
- 关键字:
- ICP-AES,高纯铜,多种杂质元素
- 语言:
- 中文
- 文件名:
- AP_News_ICP-001C.pdf
- 文件大小:
- 767
- 更新时间:
- 2017年08月29日