ICP-OES法测定碳化硅粉末中的微量元素含量

2021年9月07日

参考GB/T 37254-2018《高纯碳化硅 微量元素的测定》,使用岛津ICPE-9820型电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES)分析了碳化硅中多种重金属元素的含量。分析结果显示,该方法各元素检出限为0.005~27.125 mg/kg;相对标准偏差(RSD)0.13%~5.51%,重复性良好,样品加标回收率为90.1%~106%,该方法适用于碳化硅中多元素含量的测定。
内容类型:
应用报告
文章编号:
ICP-169_x000D_
产品类型:
元素分析
语言:
中文
更新时间:
2021年09月07日

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