ICPMS-2030测定二氧化硅中多种金属杂质元素的含量
2018年5月30日
本文采用了岛津ICPMS-2030型电感耦合等离子体质谱仪测定了二氧化硅样品中的Ce、Co、Cr、Cu、Fe、Mn及Ni等7种金属元素。实验结果表明,该方法具有灵敏度高,检出限低(0.20~8.89 μg/kg),精密度高(RSD≤2.15%),分析速度快,操作简单,加标回收率在98.6~108.0%,该方法可适于二氧化硅样品的金属杂质元素测定。
- 内容类型:
- 应用报告
- 文章编号:
- ICPMS-049
- 产品类型:
- 元素分析
- 关键字:
- 二氧化硅,ICPMS-2030,金属杂质元素
- 语言:
- 中文
- 文件名:
- AP_News_ICPMS-049.pdf
- 更新时间:
- 2018年05月30日
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