粉末压片-X射线荧光光谱法测定烧结矿中主次组分

本文将自制的烧结矿控制样品用粉末压片法制样，使用岛津MXF-N3 Plus多道同时X射线荧光光谱仪测量元素荧光X射线强度，建立TFe、SiO2、Al2O3、CaO、MgO、MnO、P、TiO2、S等主次组分的校准曲线，实现对烧结矿中主次组分的X射线荧光光谱分析。用此方法分析烧结矿样品，分析结果与化学值在允许误差范围内，能满足此类样品炉前快速分析的需要。