紫外可见分光光度计测试二氧化钛材料禁带宽度

2017年8月29日

禁带宽度是半导体的一个重要特征参量，它直接影响半导体器件耐压和最高工作温度。本文使用岛津紫外可见分光光度计和积分球附件测试了二氧化钛（TiO2，锐钛矿）吸收光谱图，得到截止波长，根据公式计算得到该材料的禁带宽度。
内容类型:
应用报告
文章编号:
UV-062
产品类型:
紫外分光光度计
关键字:
紫外可见分光光度计,积分球,半导体材料,禁带宽度
语言:
中文
文件名:
AP_News_UV-062.pdf
文件大小:
1098
更新时间:
2017年08月29日

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