X射线荧光光谱法测定硅石中杂质元素

本文利用岛津XRF-1800波长色散X射线荧光光谱仪，采用玻璃熔片制样方法，测定了硅石中主要杂质元素。结果表明，Fe2O3、Al2O3、CaO、K2O、Na2O、MnO、TiO2等主要杂质元素标准曲线线性良好，相关系数r均在0.99以上。平行10次测定各组分RSD在10.0%以下，满足工业硅生产对硅石主要杂质成分的检测要求。