作为铜矿优先浮选、硫精矿浮选过程中有危害性的硫化锌含量一般会限制在一定的范围以内。随着EDX荧光仪器的分辨率和灵敏度的大幅提高，以及快速无损分析和操作简单的优势，加之EDX荧光分析对样品要求不高（甚至可以直接测试矿浆），EDX荧光光谱仪越来越多地用于地矿浮选工艺中的元素分析。使用岛津EDX-LE Plus 荧光光谱仪可以直接对矿浆样品进行快速无损分析，无需烘干或压片，可以随时取样分析，操作简单而又快捷。

铅盐稳定剂是目前用量最大的稳定剂。为了满足不同制品的使用需求，铅盐稳定剂的配方也会做出相应调整。在铅盐稳定剂的生产中，需要通过检测铅元素含量来监控各配方的变化。本文使用能量色散型X射线荧光光谱（EDX）建立了铅盐稳定剂中Pb元素的分析方法，快捷方便，可替代常规的化学分析。

鉴别宝石时，除了使用实体显微镜等的普通宝石鉴别设备之外，还会使用各种分析装置 1)。例如，使用傅立叶变换红外光谱仪（FT-IR）确认是否进行了加热处理或者注胶处理，使用紫外-可见分光光度计（UV-VIS）确认是否进行了着色处理。另外，能散型X射线荧光光谱仪（EDXRF）是快速、非破坏性分析成分所必不可少的装置。例如，在铅玻璃浸渍过程中，可清晰地检测如铅。本文使用EDX-8100分析常见、并且受到大家喜爱的红宝石､祖母绿､帕拉伊巴碧玺的成分，在天然石/合成石的鉴别、天然石产地鉴别方面得到了理想的结果。

岛津油气勘探行业解决方案

过X射线荧光快速无损地对爆炸物进行最早期的定性-定量分析，可以帮助公安司法机关初步快速查明爆炸物的来源提高了效率。而具有高灵敏度、高分辨率且采用了新型硅漂移检测器（SDD) 的岛津EDX-7000能量色散型X射线荧光光谱仪，非常适用于对爆炸物的早期定性-定量分析，操作简单，方便快捷，无需复杂的化学前处理。

在食品原料中所含矿物成分及盐分的元素分析中，一般采用原子吸收分光光度法（以下简称AA）。在使用AA分析固形物和粉末时，需要加酸进行消解等化学预处理。与之相比，荧光X射线分析法只通过简单的预处理就可以完成固体､粉体､液体的直接测定，因而正在研究将其作为AA的替代方法使用。AA常用于对食品原料粉末中的钠含量的过程控制。我们使用能量色散型X射线荧光分析仪EDX-8100对该项分析进行了比较研究。使用压片法压片法和粉末直接分析法（以下简称粉末法）这两种前处理方法，其分析结果与AA结果之间均得到了良好的相关性。

制剂产品的元素杂质协调指南(ICH Q3D)(1)要求对 24 种关注毒性的元素的残留量进行控制。对于新制剂产品，这一要求自2016年6月起在美国和欧盟启用，在日本则从 2017年4月起启用。对于现有药品，美国自2018年1月开始适用，欧盟则从2017年12月起开始适用。尽管该指南推荐的元素杂质分析方法为电感耦合等离子体-原子发射光谱法(ICP-AES)(2)和电感耦合等离子体-质谱法(ICP-MS)，但若有适宜的备选方法时也允许使用。因此，参考美国药典USP<735>(3)，对X-射线荧光光谱法作为上述方法的替代方案的适合性进行了验证。所用的仪器为一台EDX-7000及其选配的“药物杂质分析方法包”。使用两种粉末形式的原料药作为试验材料，以标准样品水溶液用校准曲线法进行了定量分析。结果证明可以使用EDX法对制剂产品中的元素杂质进行分析控制。

为了各种目的，如防止变质，掩盖不愉快的味道或气味，或控制药物释放的时间等等，有些药品片剂表面有一层涂层。图1显示了药片涂层的示例。虽然电感耦合等离子体-原子发射光谱法(ICP-AES)和电感耦合等离子体-质谱法(ICP-MS)通常用于分析药品中的元素，但如果整个片剂被粉碎或溶解，就很难区分是来自于涂层的元素还是其他。x射线荧光使片剂在不粉碎的情况下分析成为可能。本文通过对粉状和非粉状片剂的分析比较，介绍了一种简单分析涂料中不均匀分布的方法。

陶瓷被广泛应用于各个领域。它们的生产过程由原材料、中间产品和最终产品组成。生产商分析其材料和产品的化学成分，对每个过程进行质量控制。这些材料的成分几乎都是无机物，如矿物和氧化物，可以用化学或湿法分析，如重量法、ICPAES、原子吸收光谱法。此外，还可以用能量色散x射线荧光分析（EDXRF）代替分析。

建筑用墙面腻子涂料是室内外粉刷装修前必需要使用到的建筑材料。国内城乡建设规模的扩增带来建筑材料需求量的增加。随着人们环保意识的提高，以及对生活环境的更高追求，对有害身体健康的有害物质越来越关注。重金属可以引起人身体健康的损害，国家标准GB18582-2020《建筑用墙面涂料中有害物质限量》，规定了建筑用墙面涂料中重金属的种类和限量要求。能量色散型X射线荧光分析仪，以快速无损的分析方法优点，可以快速筛选分析涂料中重金属元素含量，为涂料质量控制提供科学的数据。