使用岛津电子探针对某类Fe-Si-B系非晶合金进行了元素面分布特征和微区定量测试，表征了此类非晶合金在样品制备时发生的晶化过程中元素的扩散变化情况。测试结果表明岛津电子探针通过配置高位52.5°的X射线检出角以及兼具灵敏度和分辨率的全聚焦分光晶体，对于超轻元素具有很高的测试灵敏度，对于元素含量的相对波动变化具有很好的测试效果。
使用岛津电子探针对某类Fe-Si-B系非晶合金进行了元素面分布特征和微区定量测试，表征了此类非晶合金在样品制备时发生的晶化过程中元素的扩散变化情况。测试结果表明岛津电子探针通过配置高位52.5°的X射线检出角以及兼具灵敏度和分辨率的全聚焦分光晶体，对于超轻元素具有很高的测试灵敏度，对于元素含量的相对波动变化具有很好的测试效果。