本文使用岛津MXF-2400多道X射线荧光光谱仪分析氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O等主要杂质成分，采用粉末压片法制样，以氧化铝行业标准样品建立校准曲线，曲线线性良好，正确度在可接受范围之内，相关系数r均在0.999以上。通过研磨方式及研磨时间实验，确认了合适的研磨方法。对精度进行了考察，同一样品重复测定多次，极差在允许范围之内，方法精度良好，满足GB/T 6609.30-2022《氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法第30部分∶微量元素含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法》对分析结果的要求。