扫描探针显微镜(Scanning Probe Microscopy,SPM),其原理是利用一个细微的探针在样品表面扫描的同时,检测探针与样品之间相互作用的物理量,从而表征材料表面的形貌、粗糙度、电流电势分布及磁畴分布等。SPM在一定测试环境下,可以准确测量样品表面纳米级及以下的起伏。本文对放置在不同位置的具有相同配置的SPM-9700HT进行对比测试,证实了环境因素的确会对SPM-9700HT的测试产生一定的影响。
- 内容类型:
- 应用报告
- 产品类型:
- 表面分析
- 语言:
- 中文
- 更新时间:
- 2023年04月25日
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