X射线荧光光谱法测定铝电解质元素含量

2024年4月22日

本方法采用铝电解质标样,利用粉末压片法制备样品,用X射线荧光光谱法测定F、Al、Na、Si、Fe、Ca、K、Mg等元素含量。通过研磨方法试验确定了研磨时间及助磨剂加入量,从而获得最佳研磨粒度,得到良好的分析精度;采用标样建立工作曲线,各元素线性良好,线性相关系数R大于0.999;通过标样验证实验表明方法准确度良好。
内容类型:
应用报告
语言:
中文
更新时间:
2024年04月22日

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