F3/Q10. ATR法测试应该注意什么？

F3/A10 . 使用ATR时应注意：晶体折射率需大于样品折射率；样品应跟晶体紧密接触；如果测定的谱图需要和透过法的谱图进行比较时，应做ATR校正；若附件本身没有压力监控功能需通过软件的监控功能调节压下的压力，否则有可能压坏晶体；应注意各晶体的波数使用范围；ATR只测到样品表面几个um的信息，如果要测定更深层的样品信息需要将表面去除后再测试；样品测试完后再测下一个样品时，应先通过软件的监控功能查看是否有残留物留在晶体表面，如果有应使用酒精或丙酮清理干净后再测量。