光学元件上微小异物的测定–采用红外显微镜AIM-9000 进行扫描和识别
2017年2月06日
岛津公司的异物自动分析系统(红外显微镜)AIM-9000 采用将微小部分作为测定目标的光学设计,可以在短时间内获得微米级异物的清晰光谱。本文向您介绍使用本系统对光学元件表面附着的约10μm微小异物进行测定的示例。
- 内容类型:
- 应用报告
- 文章编号:
- LAAN-A-FT-C017
- 产品类型:
- 傅立叶变换红外光谱仪
- 关键字:
- 异物自动分析系统,红外显微镜,AIM-9000,光学元件,微小异物
- 语言:
- 中文
- 文件名:
- 20170207_ftir_food_000567cn.pdf
- 文件大小:
- 425
- 更新时间:
- 2017年02月06日
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