ICP-AES法测定高纯铬中有害杂质元素

2017年8月29日

使用高分辨率高灵敏度的岛津顺序扫描型高频等离子发射光谱仪（ICPS-8100），选择适当的分析线，采用轴向观测方式，对高纯铬中μg/g级的有害元素As, Sn, Sb, Pb, Bi进行直接同时测定，得到满意的分析结果。
内容类型:
应用报告
文章编号:
ICP-003C
产品类型:
等离子体发射光谱仪
关键字:
ICP-AES,高纯铬,有害杂质元素
语言:
中文
文件名:
AP_News_ICP-003C.pdf
文件大小:
744
更新时间:
2017年08月29日

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