有机系统ICP-AES法测定原料药样品中的无机杂质元素
2017年8月29日
本文参考美国药典《USP232》对原料药品中无机杂质元素的限量要求及《USP233》对杂质元素的测定方法,采用有机溶剂二甲基亚砜(DMSO)直接溶解原料药,利用全谱型电感耦合等离子体光谱 (ICP-AES)测定了原料药品中的重金属元素和其它无机杂质元素的含量。实验结果表明各元素的相关系数 r>0.9999,加标回收率在86.6%~104.0%之间,RSD小于2.85%。该方法前处理操作简单,无需酸消解,可快速测定原料药品中的无机杂质元素。
- 内容类型:
- 应用报告
- 文章编号:
- ICP-050
- 产品类型:
- 等离子体发射光谱仪
- 关键字:
- ICP-AES,原料药,DMSO,USP232,USP233
- 语言:
- 中文
- 文件名:
- AP_News_ICP-050.pdf
- 文件大小:
- 3198
- 更新时间:
- 2017年08月29日
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