ICPMS-2030测定二氧化硅中多种金属杂质元素的含量
        
       
      2018年5月30日
      
     
  
  
  
  
  
  
    本文采用了岛津ICPMS-2030型电感耦合等离子体质谱仪测定了二氧化硅样品中的Ce、Co、Cr、Cu、Fe、Mn及Ni等7种金属元素。实验结果表明,该方法具有灵敏度高,检出限低(0.20~8.89 μg/kg),精密度高(RSD≤2.15%),分析速度快,操作简单,加标回收率在98.6~108.0%,该方法可适于二氧化硅样品的金属杂质元素测定。  
    
    
            
        - 内容类型:
 - 应用报告
 
            
        - 文章编号:
 - ICPMS-049
 
            
        - 产品类型:
 - 元素分析
 
            
        - 关键字:
 - 二氧化硅,ICPMS-2030,金属杂质元素
 
            
        - 语言:
 - 中文
 
            
        - 文件名:
 - AP_News_ICPMS-049.pdf
 
            
        - 更新时间:
 - 2018年05月30日
 
            
        
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