IR Pilot测定薄膜和罐壁涂层的薄膜厚度

2019年5月13日

本次发布的IRSpirit是一款紧凑的FTIR,它结合了同类的SN比和分辨率(图1)。我们采用了独特的设计,可以双向放置,整机尺寸为390(W)×250(D)×210(H)mm,小于A3尺寸,因此可放置在狭窄空间。除了用于透射测定的附件,如液体池和KBr压片,还有一些功能,您可以使用现有的配件,如单次反射型ATR测定装置和漫反射测定设备,以及市售配件。此外,在进行IRSpirit系列的装置控制、数据解析的软件LabSolutions IR中,有一个专用程序(IR Pilot),能简便地执行4种测定和解析,如确认试验、异物解析、定量分析、膜厚测定。该功能仅根据画面的指示进行操作,按照正确的步骤,即可进行测定、解析、直至打印。标准配备23个专用程序,您可以在主菜单中注册最多4个常用程序。本次对使用IR Pilot进行薄膜和金属表面涂层的膜厚测定进行介绍。

内容类型:
应用报告
文章编号:
LAAN-A-FT084
产品类型:
傅立叶变换红外光谱仪
语言:
中文
文件名:
AP_GADC_A548(C).pdf
更新时间:
2019年05月13日

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