Sn掺杂的C12A7: e-电纳米颗粒的XPS表征

2020年9月16日

本文对Sn掺杂的C12A7: e-驻极体纳米粒子的表面化学性质进行了全面的X射线光电子能谱(XPS)表征,结果表明在掺杂的C12A7: e-纳米颗粒的表面上,Sn物种主要以Sn4 +的形式存在。通过单Ar+和Ar团簇离子刻蚀研究了元素随深度的分布情况。结果表明,Sn在表面富集,氩离子刻蚀会将部分Sn4+还原为金属态Sn,Ar团簇离子刻蚀对Sn4+的还原作用要弱于单Ar+刻蚀。刻蚀后元素Ca,Al,O的化学状态和分布没有明显变化。本研究对掺杂的C12A7: e-纳米粒子的化学状态分析提供了新颖的见解。
内容类型:
应用报告
文章编号:
XPS-018_x000D_
产品类型:
X射线光电子能谱仪
语言:
中文
更新时间:
2020年09月16日

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