可实现8K高像素观察！兼顾广域观察和高精细分析

扫描探针显微镜［SPM（AFM）］作为可以在大气中对纳米线进行高分辨率观察的工具，被广泛应用于纳米颗粒和软材料等领域。近年来，兼具特殊宏观结构和微观结构的材料问世，需要同时对两种结构进行观察。但传统的SPM广域观察存在像素数不足的问题，无法在图像放大时进行高精细分析。本文介绍了使用可实现8K高像素观察的SPM-Nanoa，同时兼顾广域观察和高精细分析的案例。