MoS2的价带谱分析

2021年10月27日

二维材料界面的电子结构很大程度上决定了器件的性能，通过XPS与UPS可以对二维材料的价带谱进行研究，本文研究了两者的区别，并分析了导致差异的原因。
内容类型:
应用报告
文章编号:
XPS-028
产品类型:
X射线光电子能谱仪
语言:
中文
更新时间:
2021年10月27日

预览文章

学习更多仪器相关知识，请前往

资源中心
学习中心