I3/Q19. ICP分析中的干扰有哪些，如何解决？

I3/A19.
（1）物理干扰：因物理特性的变化而产生的分析上的干扰称作物理干扰。由于ICP光谱分析的试样为溶液状态，因此溶液的粘度、比重及表面张力等均对雾化过程、雾滴粒径、气溶胶的传输以及溶剂的蒸发等都有影响，而粘度又与溶液的组成，酸的浓度和种类及温度等因素相关。
解决办法：采用内标校正法可适当地补偿物理干扰的影响，基体匹配或标准加入法能有效消除物理干扰。
（2）电离干扰：当在样品中共存有Na、K、Ca等易离子化的元素时，电离平衡发生偏移，发射光谱强度变化，原子线强度增加，离子线强度减少，由此产生的干扰称作离子化干扰。
解决办法：加入电离缓冲剂或使用标准加入法。
（3）基体干扰：基体效应来源等离子体，对于任何分析线来说，这种效应与谱线激发电位有关，但由于ICP具有良好的检出能力，分析溶液可以适当稀释，使总盐量保持在1mg/mL左右，在此稀溶液中基体干扰往往是无足轻重的；当基体物质的浓度达到几mg/mL时，则不能对基体效应完全置之不顾。相对而言，轴向观察ICP光源的基体效应要稍严重些。
解决办法：采用基体匹配、分离技术或标准加入法可消除或抑制基体效应。
（4）分光干扰：共存物质的分光学原因引起的测定元素的发射光谱强度变动所产生的干扰称为分光干扰。
解决办法：扣背景，选择另外一条没干扰的谱线作为分析线，对于必须使用有干扰的谱线情况，可以使用干扰因子校正法（IEC）进行校正。