2020.10.27
二氧化硅被广泛应用于半导体等电子部件的密封材料以及涂料填料等各种领域。如果在二氧化硅中包含异常的粗颗粒(异物或凝聚物),电子零部件会发生成形不良、绝缘不良、电气性能不良,而涂料会发生涂膜强度下降、涂敷不均等现象。评价二氧化硅的尺寸主要使用激光衍射式粒度分布测定装置(以下简称LD)和扫描电子显微镜(以下简称SEM)等。但是上述设备在测试过程中也存在一些问题,例如LD检测微量粗颗粒灵敏度较低,SEM的观察视野狭窄,导致检测时间过长,无法确保足够的测量数量,而且无法获得浓度信息等等。与之相比,动态图像分析方法可以在短时间内定量获得大量的颗粒图像,因此,适用于快速进行微量粗颗粒检测和浓度评价。动态颗粒图像分析系统iSpect™ DIA-10(图1)是一种依据动态图像分析方法,获取液体样品中的颗粒图像,进行粒径分布、颗粒浓度和形状检测的装置。采用很少遗漏的光学系统(拍摄效率90%以上),可以几分钟之内分析数万个颗粒。另外,本产品采用了微量池方式,针对样品容器内白浊、不透光的样品也可以完成检测,并通过原液或减小稀释倍数检测,减少预处理的麻烦和对样品的影响。本文中介绍使用iSpect DIA-10,以原液的状态评价二氧化硅纳米颗粒料浆中粗颗粒浓度的实例。
产品:粒度分析仪
行业:工程材料

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