针对不锈钢样品的特点建立指定元素的基本参数法，首先以标准样品建立校准曲线，结合合适浓度的标样，依据元素含量与荧光强度之间的关系求出强度重叠系数，登记求得的重叠系数到组条件，在登记了重叠系数的前提下测定元素荧光强度，建立基本参数法校准方程。

参考GB/T 6609.30-2022《氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第30部分∶微量元素含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法》，采用研磨压片制样方法将氧化铝粉用振动磨研磨至一定粒度，使用专用压片机压制成荧光分析用测试样片，于X射线荧光光谱仪上测定微量元素镓及其它杂质含量。对方法精度及准确度进行了考察，分析结果符合国家标准要求，方法可用于生产样品检测。

国标GB/T30984.1-2015《太阳能用玻璃第1部分:超白压花玻璃》要求光伏玻璃中三氧化二铁含量应该不高于0.015% 。依照国标GB/T40915-2021《X射线荧光光谱法测定钠钙硅玻璃中SiO₂、Al₂O₃、Fe₂O₃、K₂O、Na₂O、CaO、MgO含量》方法，将光伏玻璃处理后熔融制成玻璃熔片，使用岛津多道同时型X射线荧光光谱仪MXF-N3 Plus建立元素工作条件，可同时分析光伏玻璃中的低含量氧化铁及主次成分。实验结果表明，分析结果的准确度及重复性好。该方法操作简单，能够很好地消除基体效应、粒度效应及矿物效应，提高了分析结果的准确度。

通过软件的荧光强度重叠校正功能扣除钠元素对氧元素的重叠干扰，以内部标准样品建立元素校准曲线，以元素质量分数根据相应公式计算电解质分子比。对分子比的测定精度进行了考察，分析结果符合行业标准YS/T 739-2010《铝电解质分子比及主要成分的测定 X 射线荧光光谱法》，测定结果可用于指导生产。

以标准样品建立校准曲线，通过增加或减少称样量改变配比，模拟出不同配比对分析结果的影响，利用软件的曲线拟合功能计算出配比影响系数及相应校准曲线。分析试样时无需称量试样和熔剂，仅需取适量样品与熔剂混合，高温熔融制备成荧光分析专用玻璃熔片，利用一系列附加计算方式对结果进行迭代计算，可以获得满意的分析结果。方法使用水泥、生料、熟料进行了数据验证，分析试样的精度良好，分析结果与常规分析方法的一致性良好。

依照国标《GB/T 43309-2023玻璃纤维及原料化学元素的测定 X射线荧光光谱法》方法，将玻璃纤维或原料高温灼烧处理后熔融制成玻璃熔片，使用岛津多道同时型X射线荧光光谱仪MXF-N3 Plus建立可测元素范围广、浓度范围宽的元素工作条件，不但能分析各类玻璃纤维主次成分含量，也能分析叶腊石、高岭土、石灰石、白云石、钠长石、钾长石、玄武岩、矿渣等矿物原料及配合料中的主次成分含量。实验结果表明，分析结果的准确度及重复性完全优于同类标准要求。该方法操作简单，能够很好地消除基体效应、粒度效应及矿物效应，提高了分析方法的准确度。

本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》，利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪，采用粉末压片制样方法，测定工业硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线，各杂质元素标准曲线线性良好，平行测定10次，各组分精度良好。方法适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，满足工业硅生产对杂质成分的检测需求。

天然卤水制得的盐卤中富含K、Na、Mg、Li、B等元素，是重要的工业化工原料。本文使用岛津XRF和XRD联合分析了两个盐湖盐卤样品，XRF给出了盐卤样品元素组成信息，XRD的物相鉴定直接给出了盐卤样品中元素的赋存状态，即准确定性化合物，两种检测技术从不同角度给出了样品的组分信息。该方法无需化学前处理，制样和测试均比较简单，测试时间短，可快速了解盐卤的成分组成，为提高盐卤资源利用率奠定了基础，可供盐卤化工行业从业者参考。

本文利用岛津XRF-1800波长色散X射线荧光光谱仪，采用玻璃熔片法制样，建立了测定工业硅生产用碳质材料中杂质元素的方法。碳质材料经灼烧除碳，杂质元素会富集至灰分中，称量一定量的灰分与专用熔剂按一定比例混合，高温熔融制备成玻璃片，用X荧光光谱仪进行测定。碳质材料的灰分与粘土化学成分类似，以粘土标样为基础建立工作曲线，工作曲线线性良好，相关系数r在0.9999以上，此方法可以准确测定碳质材料杂质元素化学成分，满足工业硅生产对碳质材料杂质成分的检测要求。

化肥中的元素氮对作物生长起着非常重要的作用，有效的实施化肥在作物生长的不同阶段有着不同的作用，所施化肥的量的多少直接关系作物的生长。本文参考SNT 3810-2014《尿素和硫酸铵中氮含量测定X 射线荧光光谱法》标准，使用岛津XRF-1800建立了硫酸铵中氮元素的含量测定方法，该方法对含N量18.5%-21.2%的硫酸铵均可分析，相对偏差小于0.2%。