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X射线荧光光谱法测定硅石中杂质元素

本文利用岛津XRF-1800波长色散X射线荧光光谱仪,采用玻璃熔片制样方法,测定了硅石中主要杂质元素。结果表明,Fe2O3、Al2O3、CaO、K2O、Na2O、MnO、TiO2等主要杂质元素标准曲线线性良好,相关系数r均在0.99以上。平行10次测定各组分RSD在10.0%以下,满足工业硅生产对硅石主要杂质成分的检测要求。

X射线荧光光谱分析钠钙硅玻璃中的多元素含量

将钠钙硅玻璃粉碎后熔融制成玻璃熔片,使用岛津波长色散X射线荧光光谱仪建立工作条件分析玻璃中的SiO2、Al2O3、Fe2O3、K2O、Na2O、CaO、MgO含量。实验结果表明,测定结果完全能够满足国标《X射线荧光光谱法测定钠钙硅玻璃中SiO2、Al2O3、Fe2O3、K2O、Na2O、CaO、MgO含量》(征求意见稿)要求。该方法操作简单,能够很好地消除矿物效应、组织效应和颗粒度效应,提高了钠钙硅玻璃成分分析方法的准确度。

转换滤纸法多元素分析

溶液转移滤纸片法是替代液体分析的一种很好的方法,尤其是对于一些高盐份的元素分析以及没有原子吸收和ICP的场合。经过实验得出,X射线荧光光谱法可以很好的测试和覆盖该样品中Al、Ba、Bi、Ca、Co、Cr、Cu、Fe 、Ga、K 、Mg、Mn 、Na、Ni、Pb、Sr、Zn等17种元素的分析,测试精度良好。

X射线荧光光谱法测定金红石中多元素

本文介绍了采用X射线荧光光谱法测定以TiO2为主要基体的金红石等矿物的分析方法。以氧化钛为主体配以其他矿物标样,采用玻璃熔片法,合成配制出一系列标准样品,制作多元素工作曲线。玻璃熔片法消除和减小了矿物结构、样品粒度等对分析结果的影响,可以采用配制标样的方法获得系列标准样品,方法不受实物标准样品限制,并且可用于分析元素含量在工作曲线范围内的不同类别的矿物。

X射线荧光光谱法测定镁质耐火材料

采用X射线荧光光谱仪熔融玻璃片法测定镁质耐火材料中元素,以镁砂及镁石标样建立工作曲线,可用于分析多种镁质耐火材料。玻璃熔片法消除和减小了矿物结构、样品粒度等对分析结果的影响,不同类别的镁质耐火材料可以采用统一的分析方法;考虑到烧失量对分析结果的影响,对制样方法进行了优化,提高了分析结果的准确度;不同类别的镁质样品采用了有差异的样品前处理方法,使得所有此类样品可以共用一套工作曲线。本方法适用于镁砂、镁石、镁砖等多种镁质耐火材料及其原料的分析。

熔融制样-X射线荧光光谱法测定锰矿及锰渣中多元素含量

将锰矿或锰渣样品与熔剂按一定比例混合,用铂金坩埚高温熔融制备成荧光分析用玻璃片,然后使用X射线荧光光谱法(XRF法)分析锰矿及锰渣中多元素含量。采用混合熔剂熔样,降低了熔样温度,同时降低了样品在熔融过程的粘稠度,使样品与熔剂更容易混合均匀,从而提高了检测精度与准确度;通过特殊处理手段进行烧失量校正,消除烧失量对分析结果的影响;配制合适浓度的校正元素,利用合理的共存元素校正,提高分析结果的准确度;通过配制多种浓度梯度的标样,增加工作曲线的适用范围。本方法不受市售标准样品的限制,可用于分析元素含量在工作曲线范围内的不同类别的矿物。

土壤和沉积物无机元素波长色散型X射线荧光光谱仪分析操作流程(SOP)

《土壤沉积物无机元素的波长色散X射线荧光光谱分析法》HJ 780-2015

PM大气颗粒物分析操作流程(SOP)

HJ 830-2017《环境空气 颗粒物中无机元素的测定 波长色散X射线荧光光谱法》

炉渣类(压片)分析操作流程(SOP)

《YBT 4177-2008 炉渣X射线荧光光谱分析方法》

水泥及熟料分析操作流程(SOP)

《GBT 176-2017 水泥化学分析方法-X荧光光谱分析法》

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