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使用配置高灵敏度检测池的光电二极管阵列检测器SPD-M30A 进行杂质分析

在进行医药品的杂质分析时,除了检测高浓度的主要成分以外,还需要检测医药品中存在的微量杂质。因此要求检测器必须具备宽线性范围。对微量杂质进行高精度定量分析,需要使用高S/N(信噪比)。通常,通过增加样品浓度与进样量提高S/N。但是,增加样品浓度后,主要成分的溶解度可能发生改变,或经加热溶解而分解成分;增加进样量后,因样品溶剂的影响,峰可能变形。因此,为了通过适当的样品浓度和进样量来检测微量杂质,检测器必须具备高灵敏度。本文为您介绍使用新型光电二极管阵列检测器SPD-M30A 和选配件高敏感度检测池(光程长为85mm)进行杂质分析,并测定其灵敏度和线性的示例。

光电二极管阵列检测器新分析方法i-DReC的原理及概要

在高浓度样品的分析中,如使用光电二极管阵列检测器的新数据分析方法—动态量程扩展功能i-DReC(Intelligent Dynamic Range Extension Calculator),即使检测器的信号处于饱和浓度区域,也可以利用光谱的相似性自动求取峰面积和峰高。当PDA检测器数据的峰值强度超过既定阈值时,i-DReC用自动位移至吸收较少的波长所获得的色谱求取峰面积和峰高,根据光谱数据来校正波长间的灵敏度比,计算目的波长的峰面积和峰高。i-DReC是使动态量程得到飞跃性扩展的新分析方法。对必须稀释的传统高浓度样品也可以无需稀释地进行分析,获得准确的定量值。

i-PDeA原理及概要

即使是未分离的峰,若使用光电二极管阵列检测器的新型数据解析方法i-PDeA(Intelligent Peak DeconvolutionAnalysis),也可利用光谱差异提取目标峰。i-PDeA通过利用微分光谱色谱图法,即对测量的各时间点的UV-VIS吸收光谱进行微分处理所得的微分光谱的特定波长的值按时间方向标绘的方法,对共同析出峰进行分离。 本文对通过i-PDeA功能,使用微分光谱色谱图法具备的高度选择性,检测出未预料到的杂质混入,去除同时洗脱出的干扰成分的影响、仅对目标成分进行定量的应用事例进行介绍。

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