临界胶束浓度（CMC）是表面活性剂重要的功能性相关指标之一。由于表面活性剂类药用辅料（尤其是复杂组分表面活性剂）的结构（如亲疏水基团比例与数量）、分子量、纯度等均影响其亲疏水性，进而影响其CMC，因此，测定CMC对表面活性剂类药用辅料的质量控制具有重要意义。本文参考《临界胶束浓度测定指导原则》，使用岛津RF-6000测试了表面活性剂十二烷基硫酸钠（SDS）的临界临界胶束浓度。

Xspecia是一种能够以高能量分辨率检测样品中的Mn、Co、Ni产生的荧光X射线的装置。可以极高的精度获取随着化学状态的变化而产生的荧光X射线能量位移，而所述的化学状态变化称为化学位移。含有Mn、Co、Ni的化合物广泛应用于以锂离子电池正极材料、热敏电阻、铁氧体等高性能材料为首的多个领域。迄今为止，材料的无损化学状态分析一直使用要求高强度X射线的测定方法，例如，在同步辐射设备中进行的X射线吸收精细结构测定（XAFS）。Xspecia在实验室内可进行简单的化学状态分析，无需任何特殊的实验设备。在本文中将展示可测定表观化合价不同的Mn、Co、Ni化合物，并以极高的精度评估各自的化学状态差异的示例。

通常认为紫外线（Ultraviolet Radiation：UV）会导致皮肤老化、色斑、雀斑和皮肤癌。因此，阻隔紫外线商品的需求很大，各个厂商都在开发号称可以阻隔紫外线的商品，为了表示这些产品阻隔紫外线的程度指标（数值），各国的标准中都规定了紫外线防护系数UPF（Ultraviolet Protection Factor）。在本文中，为了确认是否存在影响UPF值的荧光物质，我们使用荧光分光光度计RF-6000作了荧光测定。此外，还使用紫外可见分光光度计UV-2600i以及LabSolutions UV-Vis UPF软件计算口罩和帽子等各商品的UPF值并对其作了比较。

本文将自制的铁矿石控制样品用粉末压片法制样，使用岛津MXF-N3 Plus多道同时X射线荧光光谱仪测量元素荧光X射线强度，建立TFe元素校准曲线，实现对铁矿石中铁元素的X射线荧光光谱分析。此法分析铁矿石样品，荧光分析值与化学值对比能够达到±0.30以内，满足矿山开采过程中快速分析的需求。

本文利用岛津RF-6000荧光分光光度计，建立了定性测试红糖3D荧光光谱的方法。通过对不同类型的红糖样品进行快速3D荧光光谱扫描，能观察到不同的红糖样品3D荧光光谱存在明显差异，可借助3D荧光光谱获取更加丰富的信息，为红糖的品质、类型和工艺识别提供重要参考。

基于三维荧光光谱技术，测试了城市环境水体溶解性有机物（DOM）的荧光分布特征。从环境水体三维荧光光谱中呈现出4个荧光组分，包括２种腐殖酸类物质和2种蛋白质类物质，可以快速表征城市水体的DOM特征，为环境水体的水质检测和改善提供理论支持，确保环境水体水质安全。