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地质矿产分析解决方案

矿产资源是经济社会发展的重要物质基础,矿产资源勘查开发事关国计民生和国家安全。习近平总书记强调:“加大勘查力度,加强科技攻关,在新一轮找矿突破战略行动中发挥更大作用”。立足保障国家能源资源安全,围绕加强重要能源矿产资源国内勘探开发和增储上产,自然资源系统凝聚各方力量,全力推进新一轮找矿突破战略行动,确保能源的饭碗端在自己手里。

微电子行业应用文集

自1958年第一块集成电路诞生以来,以集成电路为核心的微电子技术被认为是信息社会发展的驱动器。微电子产业已经超过诸多传统产业,发展成为全球经济增长的支柱产业,越来越多的国家开始重视其相关技术的发展。近年来,我国微电子技术发展迅速,涌现出众多的集成电路制造、设计与封测企业。随着物联网、云计算、大数据、人工智能以及5G等新兴技术应用需求的快速增加,微电子产业在国民经济和国防建设中的战略地位日益凸显。

为发展中国微电子产业,国家先后出台了多项政策和规划。2014年,国务院印发的《国家集成电路产业发展推进纲要》中指出:集成电路产业是信息技术产业的核心,是支撑经济社会发展和保障国家安全的战略性、基础性和先导性产业。2016年国家自然科学基金“十三五”发展规划在“学科布局与优先领域”中将微纳集成电路和新型混合集成技术列为优先资助领域之一。2021年国务院专门印发新时期促进集成电路产业和软件产业高质量发展若干政策,为集成电路企业(包括设计、生产、封装、测试、装备、材料)和软件企业提供政策支持。在国家政策扶持以及新兴产业的推动下,中国的微电子产业链已经初步形成,微电子行业的发展风口悄然而至。

HPLC-ICP-MS法测定生活饮用水中的氯化乙基汞

参考GB/T 5750.6-2023《生活饮用水标准检验方法 第6部分:金属和类金属指标》,建立了高效液相色谱电感耦合等离子体质谱法(HPLC-ICP-MS)测定生活饮用水中氯化乙基汞含量的测试方法。样品经过处理后,采用高效液相色谱LC-20Ai对甲基汞和乙基汞进行分离,电感耦合等离子体质谱ICPMS-2030系列进行定量分析。实验结果表明:该方法线性范围在1 µg/L ~50 µg/L范围内回归系数大于0.9993,对生活饮用水中甲基汞和乙基汞在0.05 µg/L~0.20 µg/L质量浓度范围内进行低、中、高浓度加标,加标回收率在82.0 %-90.6 %  之间,相对标准偏差小于5.0 % 。

火灾物证鉴定数据集册

近年来,我国的火灾调查基础研究发展较为迅速,在研究引火源的引火特性方面,主要集中于对典型的电火花、明火、物质自燃等的引燃特性研究,同时还针对不同引火源的能量、位置的引燃特性进行了深入分析实验。在可燃物及新材料、新产品的引燃条件和蔓延规律方面,主要着眼于阴燃起火、电气设备故障起火、可燃聚合物起火等内容。在汽车火灾调查方面,主要对我国的机动车主要是汽车的火灾现状、火灾原因、调查方法、自燃问题进行了研究,目前,新能源电动汽车不断深入大众生活,发生起火事件屡见不鲜,关于新能源电动汽车的火灾研究也成为调查基础研究的重要内容之一。

作为刑事科学技术的一个分支,火灾物证鉴定主要是指运用现代科学技术方法,对来自火灾现场的物证进行实验室检验鉴定的活动。目前,关于火灾物证的研究主要集中在围绕放火嫌疑火灾开展的物证鉴定技术、物质燃烧特性开展的物证鉴定技术和电气故障引发的火灾开展的物证鉴定技术。

EDX-7200分析锰锌铁氧体中的成分含量

使用岛津能量色散型X射线荧光光谱仪EDX-7200建立工作条件,分析锰锌铁氧体中的成分含量。该方法快速无损分析,操作简单,无需化学前处理,对环境友好。

X射线荧光光谱法测定黏土类样品主成分

参考标准《GB/T 21114-2019耐火材料 X射线荧光光谱化学分析 熔铸玻璃片法》,建立了黏土类样品分析方法。将试样与专用熔剂按1:10比例混合,高温熔融制备成荧光分析用玻璃片,在X射线荧光光谱仪上进行测量。对烧失量影响、共存元素影响等分析条件进行了优化,以确保分析结果的可靠性。用标样灼烧基熔融制样建立工作曲线,工作曲线线性良好,正确度符合常规分析要求。对方法的精度及准确度进行了考察,分析结果优于标准要求。

X射线荧光光谱法测定铝电解质元素含量

本方法采用铝电解质标样,利用粉末压片法制备样品,用X射线荧光光谱法测定F、Al、Na、Si、Fe、Ca、K、Mg等元素含量。通过研磨方法试验确定了研磨时间及助磨剂加入量,从而获得最佳研磨粒度,得到良好的分析精度;采用标样建立工作曲线,各元素线性良好,线性相关系数R大于0.999;通过标样验证实验表明方法准确度良好。

X射线荧光粉末压片法测定多晶硅中杂质元素

本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》,利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪,采用粉末压片制样方法,测定多晶硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线,各杂质元素标准曲线线性良好,平行测定10次,各杂质组分分析精度良好。方法适用于多晶硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定,满足多晶硅生产对杂质成分的检测需求。

XRF玻璃熔片法测试钛硅分子筛催化剂中多元素含量

钛硅分子筛催化剂属于新材料领域,是一种具有选择性特征的氧化还原催化剂,在选择氧化还原领域具有巨大的应用潜力。本方法采用钛硅分子筛样品与特定熔剂按比例混匀,高温熔融成玻璃熔片,用X射线荧光光谱法(XRF)测试了Fe2O3、TiO2、SiO2、Al2O3、CaO、MgO、P2O5、K2O和Na2O等元素含量,实验表明,该方法曲线线性良好,相关系数都在0.999以上,方法精度、准确度良好。

XRF玻璃熔片法测试特殊陶瓷中SrZrZn元素

陶瓷主要是由粘性较高的高岭土、黏土、石英和长石等混合高温烧成而成,通过调整3者比例,可得到不同的抗电性能、耐热性能和机械性能的陶瓷。陶瓷成分组成复杂,有时加入如Sr Zr Zn等稀有元素来改变其性能,以达到SZP陶瓷的特殊用途;传统化学分析方法需要复杂的样品前处理,操作比较麻烦,性质接近的特殊元素的相互干扰无法掩蔽,而利用XRF荧光玻璃熔片法分析,样品处理简单方便,既可以消除矿物效应、粒度效应对结果的影响,又可以通过修正排除元素之间的干扰,提高了分析精度和准确度。本文使用岛津XRF-1800 波长色散X射线荧光光谱仪,建立了特殊陶瓷的分析方法,同时验证了方法的准确度和精密度。

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