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AA-7800测定水样中钴元素含量

本文参考《水质 钴的测定 火焰原子吸收分光光度法》(HJ957-2018)及《水质 钴的测定 石墨炉原子吸收分光光度法》(HJ958-2018),使用岛津AA-7800型原子吸收光谱仪建立了测定环境水样中钴元素含量的方法。实验结果表明,该方法标准曲线线性良好(r>0.9996),测定结果准确,加标回收率在91.3~102.4%之间,重复性良好(RSD<0.88%,n=3),适用于环境水样中Co元素含量的测定。

AA-7800测定工作场所空气中砷及其无机化合物

本文参考GBZ/T 300.47-2017《工作场所空气有毒物质测定 第47部分:砷及其无机化合物》,使用岛津HVG-100氢化物发生器、岛津AA-7800型原子吸收光谱仪建立了测定空气中砷元素含量的方法。实验结果表明,该方法标准曲线线性良好(r>0.9996),测定结果准确,加标回收率在101.9~103.6%之间,重复性良好(RSD<4.42%,n=3),适用于工作场所空气中砷及其无机化合物的测定。

HPLC-ICPMS测定粮谷中硒代半胱氨酸和硒代蛋氨酸(SOP)

《NY/T3556-2020 粮谷中硒代半胱氨酸和硒代蛋氨酸的测定 液相色谱-电感耦合等离子体质谱法》规定了粮谷中硒代半胱氨酸和硒代蛋氨酸的液相色谱-电感耦合等离子体质谱测定法的原理。本标准方法适用于稻米、小麦、玉米、高粱、小米中硒代半胱氨酸和硒代蛋氨酸含量的测定。

联合XRF和XRD分析盐卤成分

天然卤水制得的盐卤中富含K、Na、Mg、Li、B等元素,是重要的工业化工原料。本文使用岛津XRF和XRD联合分析了两个盐湖盐卤样品,XRF给出了盐卤样品元素组成信息,XRD的物相鉴定直接给出了盐卤样品中元素的赋存状态,即准确定性化合物,两种检测技术从不同角度给出了样品的组分信息。该方法无需化学前处理,制样和测试均比较简单,测试时间短,可快速了解盐卤的成分组成,为提高盐卤资源利用率奠定了基础,可供盐卤化工行业从业者参考。

X射线荧光光谱法测定碳质材料中杂质元素

本文利用岛津XRF-1800波长色散X射线荧光光谱仪,采用玻璃熔片法制样,建立了测定工业硅生产用碳质材料中杂质元素的方法。碳质材料经灼烧除碳,杂质元素会富集至灰分中,称量一定量的灰分与专用熔剂按一定比例混合,高温熔融制备成玻璃片,用X荧光光谱仪进行测定。碳质材料的灰分与粘土化学成分类似,以粘土标样为基础建立工作曲线,工作曲线线性良好,相关系数r在0.9999以上,此方法可以准确测定碳质材料杂质元素化学成分,满足工业硅生产对碳质材料杂质成分的检测要求。

X射线荧光光谱法分析硫酸铵中的氮含量

化肥中的元素氮对作物生长起着非常重要的作用,有效的实施化肥在作物生长的不同阶段有着不同的作用,所施化肥的量的多少直接关系作物的生长。本文参考SNT 3810-2014《尿素和硫酸铵中氮含量测定X 射线荧光光谱法》标准,使用岛津XRF-1800建立了硫酸铵中氮元素的含量测定方法,该方法对含N量18.5%-21.2%的硫酸铵均可分析,相对偏差小于0.2%。

X射线荧光光谱法测定硅石中杂质元素

本文利用岛津XRF-1800波长色散X射线荧光光谱仪,采用玻璃熔片制样方法,测定了硅石中主要杂质元素。结果表明,Fe2O3、Al2O3、CaO、K2O、Na2O、MnO、TiO2等主要杂质元素标准曲线线性良好,相关系数r均在0.99以上。平行10次测定各组分RSD在10.0%以下,满足工业硅生产对硅石主要杂质成分的检测要求。

岛津XRD快速表征锂电池石墨负极极片取向比

六方结构的石墨作为负极材料中的活性物质,在锂离子电池中有着广泛的应用。石墨为六方层状结构,在极片制备过程中,容易产生择优取向,而取向程度会直接影响锂离子的扩散速率及极片的振实密度。石墨层状结构的取向比(OI)可通过石墨(004)衍射峰与(110)衍射峰的强度比进行快速表征。本文使用岛津XRD对某石墨极片进行了测试,并采用峰强度比I(004)/I(110)计算得到该石墨极片样品取向比OI为2.36,测试结果可为石墨负极极片工艺控制及优化提供科学可靠的指导。

ICP-MS测定塑料中Cd、Hg、Pb和总Cr含量

参考国家标准GB/T 38290-2019《塑料材料中镉含量的测定》、GB/T《38291-2019 塑料材料中铅含量的测定》、GB/T 38292-2019《塑料材料中汞含量的测定》,使用岛津电感耦合等离子体质谱仪(ICPMS-2030系列)测定了塑料中Cd、Cr、Hg和Pb四种重金属的含量。实验结果表明,四种元素方法检出限为0.83 μg/kg~4.59 μg/kg,塑料标准物质RMX-A019和RMX-A028测定结果与标准值一致,测定RSD小于3%,平行测定的RPD小于3%。该方法适用于塑料及其制品中Cd、Cr、Hg和Pb的检测。

X射线荧光分析仪对考古样品(古代金属器物)的无损元素分析

能量色散型X射线荧光分析仪(EDX)可对分析目标的组分进行迅速且无损的分析。无损分析如字面含义,是指在不拆解或损伤分析对象的情况下,分析其性质的分析技术,在食品、材料、医药等很多领域均有需求。在处理贵重样品、研究文化历史样品过程中,利用X射线荧光进行无损分析就是其中典型的应用。本文使用EDX-7000型仪器,对日本国际文化研究中心提供的4份明治初期金属标本进行了构成分析,以研究当时的科技水平。虽然分析的金属标本表面腐蚀严重,还是依旧得到了其主要组分金属,均为纯度较高的金属。

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