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电感耦合等离子体原子发射光谱法测定钐铕钆富集物中的稀土元素

稀土元素有众多发射谱线,光谱干扰是稀土元素分析中的解决难点。本文使用高分辨率ICP-AES,选择基体干扰少,灵敏度较高的分析线及最佳工作条件,样品采用简单前处理方法,未经基体分离,使用基体匹配进行直接测定,得到稳定而准确的结果,为稀土行业分析提供可行的方法。

ICP-AES法测定奶粉中的八种重金属元素

采用HNO3-H2O2(62)作为消解剂对奶粉样品进行微波消解,然后应用电感耦合等离子体发射光谱技术(ICP-AES)分别对婴儿奶粉和学生奶粉中的钙、镁、钾、钠、铁、锰、铜和锌八种金属元素进行测定,各元素的回收率在92.0~117.0%之间,相对标准偏差RSD≤3.98,方法检出限在0.30~40.0 ?g/L之间。该方法快速简便、准确率高、精密度好,适合奶粉中微量元素和常量元素的测定。

ICP-AES测定鼠标垫中的镉和铅

样品经酸消解后直接用电感耦合等离子体发射光谱(ICP-AES)测定其中有害元素含量。本文通过对样品进行微波消解,在无需基体匹配的情况下,得到了准确的分析结果。回收率在98.5~99.3%,相对标准偏差<1%(n=6),溶液检出限<0.01(μg/ml)。

ICP-AES测定软磁材料中微量元素

软磁材料1J50样品经酸消解后直接用电感耦合等离子体发射光谱(ICP-AES)测定其中的硅、锰、铬、铜、钴、磷微量元素含量。本文对样品的消解方法进行了试验探讨。在优化仪器的工作条件下,通过基体匹配消除了基体干扰的影响。方法简便、快速,可满足工业分析要求。回收率在98.3~100.1%,相对标准偏差<1%(n=6),溶液检出限在0.003~0.02(μg/ml)之间,测定结果同认定值相符。

ICP-AES法测定三种中药材中的重金属元素

采用HNO3-H2O2(52)作为消解剂对中药样品进行微波消解,然后应用电感耦合等离子体发射光谱技术(ICP-AES)分别对中药材金银花、黄连和鱼腥草中As、Cd、Cu、Hg和Pb五种重金属元素进行测定,各元素的回收率在90.4~103.7%之间,相对标准偏差RSD≤6.01,检出限在0.13~2.92?g/L之间。该方法快速简便、准确率高、精密度好,用于中药材及类似样品的分析,结果令人满意。

ICP-AES法测定高纯铬中有害杂质元素

使用高分辨率高灵敏度的岛津顺序扫描型高频等离子发射光谱仪(ICPS-8100),选择适当的分析线,采用轴向观测方式,对高纯铬中μg/g级的有害元素As, Sn, Sb, Pb, Bi进行直接同时测定,得到满意的分析结果。

ICP-AES法测定焊锡中多种杂质元素

用电感耦合等离子发射光谱法(ICP-AES)直接同时测定了焊锡中多种杂质元素(P, Fe, As, In, Sb, Au, Pb, Bi, Cu, Al, Ni, Zn, Cd)。在优化仪器的工作条件下,以基体匹配法配制工作曲线标样,有效地消除了基体干扰。方法简便、可靠并得到了满意的分析结果。检出限为0.00001-0.0001%,回收率在95.6-105%范围内,多数分析元素的RSD小于5%。

ICP-AES法测定高纯铜中多种杂质元素

用电感耦合等离子发射光谱法(ICP-AES)同时测定了高纯铜中的多种杂质元素P, Mn, Fe, Ni, Zn, As, Se, Ag, Cd, Sn, Sb。优化仪器的工作条件,以基体匹配法配制工作曲线标样,有效地消除了基体干扰。方法简便、可满足工业分析要求。检出限为0.000004-0.0001%,回收率在85.9-105%范围内。

岛津能量色散X射线荧光在硅胶液相沉积材料表征中的应用

我们使用岛津能量色散型X射线荧光光谱仪(EDX)对硅胶液相沉积材料中氧化硅表面的氧化钛涂层进行了测试,结果与其他表征结果和试验结论完全一致,EDX完全可以胜任无机类研究材料的表征。

岛津能量色散X射线荧光测试铅黄铜

铅黄铜中相关元素的分析一般采用化学滴定、直读光谱或波长色散型荧光(WDXRF)。化学滴定人为误差难以控制,直读光谱对样品表面形貌要求严格,而WDXRF造价昂贵。采用能量色散X射线荧光建立了更为简便的铅黄铜中相关元素分析方法。

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