氮化硅作为一种重要的陶瓷材料，凭借其卓越的物理与化学特性，在广泛的工业制造及日常生活中占据着独一无二的地位。氮化硅粉末作为制造各类氮化硅制品的基础原料，其品质直接关乎最终产品的性能表现，其中粒度是衡量其质量的关键指标之一。本报告采用配备了多功能流通池的激光粒度分析仪SALD-2300，选用纯水作为分散媒介，对不同种类氮化硅粉末的粒度进行测定，此方法为科学评估氮化硅粉末的质量等级及优化生产流程提供了可靠的技术支撑。

自1958年第一块集成电路诞生以来，以集成电路为核心的微电子技术被认为是信息社会发展的驱动器。微电子产业已经超过诸多传统产业，发展成为全球经济增长的支柱产业，越来越多的国家开始重视其相关技术的发展。近年来，我国微电子技术发展迅速，涌现出众多的集成电路制造､设计与封测企业。随着物联网､云计算､大数据､人工智能以及5G等新兴技术应用需求的快速增加，微电子产业在国民经济和国防建设中的战略地位日益凸显。

为发展中国微电子产业，国家先后出台了多项政策和规划。2014年，国务院印发的《国家集成电路产业发展推进纲要》中指出：集成电路产业是信息技术产业的核心，是支撑经济社会发展和保障国家安全的战略性､基础性和先导性产业。2016年国家自然科学基金“十三五”发展规划在“学科布局与优先领域”中将微纳集成电路和新型混合集成技术列为优先资助领域之一。2021年国务院专门印发新时期促进集成电路产业和软件产业高质量发展若干政策，为集成电路企业（包括设计、生产、封装、测试、装备、材料）和软件企业提供政策支持。在国家政策扶持以及新兴产业的推动下，中国的微电子产业链已经初步形成，微电子行业的发展风口悄然而至。

本文使用岛津动态颗粒图像分析系统iSpect DIA-10建立了测试石墨负极材料粒度、粒形和圆度的方法。实验结果表明，使用iSpect DIA-10在获取颗粒粒度的同时，还可直接观察颗粒的形状及圆度特征，并获得颗粒物的数量浓度，仪器操作简便，数据稳定，可快速测定石墨负极材料的颗粒信息。

本文使用岛津动态颗粒图像分析系统iSpect DIA-10建立了测试锂电池三元正极材料粒度、粒形和圆度的方法。实验结果表明，使用iSpect DIA-10在获取颗粒粒度的同时，还可直接观察颗粒的形状及圆度特征，并获得颗粒物的数量浓度，仪器操作简便，数据稳定，可快速测定锂电池三元正极材料的颗粒信息。

本文参考标准《镍钴锰酸锂》（YS/T 798-2012）与标准《粒度分析 激光衍射法》（GB/T 19077-2016），使用岛津激光粒度仪SALD-2300湿法测试三元正极材料镍钴锰酸锂粉末的粒径大小和分布。本法使用循环流通池，以纯水作为分散介质，可同时在搅拌和超声条件下进行测试，样品分散充分，测试速度快，数据稳定且重复性好，可满足三元材料镍钴锰酸锂粒度的测试要求。

本文利用岛津激光粒度仪SLAD-2300，建立了锂电池正极材料磷酸铁锂及其主要原料磷酸铁的粒径大小和分布的测定方法，可为了解材料的粒度信息提供重要参考。实验表明，样品制备简单，测试速度快，重复性优良，本法满足此类正极材料的粒度测试要求。

本文利用岛津激光粒度仪SLAD-2300，建立了测定3种类型抛光粉（氧化铝、金刚石和氧化铈）粒径大小和分布的测定方法，可为了解抛光粉的粒度信息提供重要参考。实验表明，样品制备简单，测试速度快，重复性优良，本法满足此类抛光粉的粒度测试要求。

本文参考行业标准《电池级碳酸锂》（YS/T 582-2013）与标准《粒度分析 激光衍射法》（GB/T 19077-2016），使用岛津激光粒度仪SALD-2300湿法测试电池级碳酸锂粉末的粒径大小和分布。本法使用微量样品池，以无水乙醇作为分散介质，在快速搅拌条件下进行测试，样品分散充分，测试速度快，数据稳定且重复性好，可满足电池级碳酸锂粉末粒度的测试要求。

本文参考标准《四氧化三钴》（YS/T 633-2015）中试验方法与标准《粒度分析 激光衍射法》（GB/T 19077-2016），使用岛津激光粒度仪SALD-2300湿法测试四氧化三钴粉末的粒径大小和分布。本法使用循环流通池，以纯水作为分散介质，可同时在搅拌和超声条件下进行测试，样品分散充分，测试速度快，数据稳定且重复性好，可满足四氧化三钴粉末粒度的测试要求。

本文参考标准《锂离子电池石墨类负极材料》（GB/T 24533-2019）中附录A方法，使用岛津激光粒度仪SALD-2300湿法测试石墨类负极材料的粒径大小和分布，为了解的负极材料的粒度信息提供参考。本法使用纯水为分散介质，可同时在搅拌和超声条件下进行测试，样品分散充分，测试速度快，数据稳定且重复性好，可满足锂电池石墨类负极材料粒度的测试要求。