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过X射线荧光快速无损地对爆炸物进行最早期的定性-定量分析，可以帮助公安司法机关初步快速查明爆炸物的来源提高了效率。而具有高灵敏度、高分辨率且采用了新型硅漂移检测器（SDD) 的岛津EDX-7000能量色散型X射线荧光光谱仪，非常适用于对爆炸物的早期定性-定量分析，操作简单，方便快捷，无需复杂的化学前处理。

本文使用岛津动态颗粒图像分析系统iSpect DIA-10建立了测试锂电池正极材料颗粒粒度、粒形和圆度的方法。实验结果表明，使用iSpect DIA-10在获取锂电池正极材料中颗粒粒度的同时，还可直接观察颗粒的形状及圆度特征，仪器操作简便，数据稳定，可快速测定锂电池正极材料的颗粒信息。

本文使用岛津动态颗粒图像分析系统iSpect DIA-10建立了测试3D打印材料颗粒粒度、粒形和圆度的方法。实验结果表明，使用iSpect DIA-10在获取3D打印材料中颗粒粒度的同时，还可直接观察颗粒的形状及圆度特征，仪器操作简便，数据稳定，可快速测定3D打印材料的颗粒信息。

在食品原料中所含矿物成分及盐分的元素分析中，一般采用原子吸收分光光度法（以下简称AA）。在使用AA分析固形物和粉末时，需要加酸进行消解等化学预处理。与之相比，荧光X射线分析法只通过简单的预处理就可以完成固体､粉体､液体的直接测定，因而正在研究将其作为AA的替代方法使用。AA常用于对食品原料粉末中的钠含量的过程控制。我们使用能量色散型X射线荧光分析仪EDX-8100对该项分析进行了比较研究。使用压片法压片法和粉末直接分析法（以下简称粉末法）这两种前处理方法，其分析结果与AA结果之间均得到了良好的相关性。

为保证探针‐样品之间恒定的相互作用力，SPM一般采用对样品表面进行扫描的“XY测量”方法获取数据。XY测量具有扫描速度快、平面分辨率高的特点，是各种测量模式的基础。但是，SPM同时也存在对“广视野”、“柔软样品”、“起伏大的样品” 测量困难的缺点。我们已经成功开发了“ZXY测量”以克服这些缺点，现报告如下。

岩石中所含的矿物记录了岩石形成过程中的物理和化学信息。因此，通过详细研究元素的浓度分布，可以了解岩石的受热历史和成因。在这里，使用电子束显微分析仪EPMA™（EPMA-1720HT）对浅间山的火山岩进行了元素面分布特征分析。薄片试样由东京大学研究生院理学系研究科地球行星科学专业理学技术部技术负责人吉田英人先生提供。

近年来，在电子工业中，随着电子部件的小型化和无铅焊料的普及，焊接技术变得越来越重要。本次结合使用电子探针显微分析仪EPMA™（EPMA-8050G）对通过无铅焊料（Sn-3.0Ag-0.5Cu）封装的印刷电路板焊接部分进行分析的示例，为您介绍FE-EPMA所独有的高分辨率X射线图像以及改变加速电压时的微粒子分布差异情况。

多氯联苯（PCB）因其毒性已经成为社会问题，因此，已于1972年起被禁止制造、进口和使用。含PCB的废弃物，即使PCB含量很低，也需要焚烧进行无害化处理。PCB作为增塑剂可添加于涂料中，用于桥梁等建造物的涂装。由于上述建造物涂装修缮等原因会产生含低浓度PCB的涂膜碎屑废弃物，因而需对其进行焚烧处理。2019年10月环保部公布了《含低浓度PCB废弃物的测定方法（第4版）》，可用于测定涂膜碎屑中PCB的含量。涂膜通常由使用PCB作为增塑剂的氯化橡胶基涂料制成，通常很难通过ECD等检测器进行分析，因此连接到气相色谱仪（GC）上的检测器仅限于质谱仪（MS）。本文主要介绍了GC/MS/MS法和GC/QMS法测定涂膜碎屑中PCB的含量。

近年来，食品中混入异物的案例增加，研究开展异物分析的必要性不断提高。用于仪器分析的混入异物鉴定使用傅立叶变换红外光谱仪（FTIR）和能量色散型荧光X射线分析仪（EDX）等。使用GCMS进行异物分析时，一般使用热裂解GCMS法或者热萃取GCMS法，可以对微量有机物异物中所含的树脂材料和添加剂进行定性。在本稿中为您报告设想为食品异物，使用热萃取GCMS法对食品包装材料中的添加剂进行分析的结果。热萃取GCMS分析使用了多功能进样口OPTIC-4，添加剂的定性使用了高分子添加剂数据库。

脂肪酸是食品、生物等多种领域中需要检测的一类化合物。通过甲酯化使具有高挥发性的脂肪酸惰化，进而可以使用高分辨气相色谱仪来进行分析。但是，使用质谱仪很难分析不饱和脂肪酸甲酯的双键位置，造成研究方面的局限性。因此，研究人员开发出使用乙腈的化学电离分析方法1)，扩大了位置分析的可能性。溶剂介导化学电离（SMCI）法是使用有机溶剂的软电离方法，可以将乙腈导入到离子源中，并对双键位置进行分析。本篇应用为您介绍使用该SMCI法分析不饱和脂肪酸甲酯的双键位置。关于详细内容及实际试样的分析，请参见技术报告C146-0396、C146-0397。