压电材料具有在外界压力下产生变形，进而产生电压的特性。充分利用该特性，压电材料可作为传感器、蜂鸣器、滤波器，在各种工业产品中发挥着重要作用。近年来，随着电子设备、通信设备的小型化，需加大研究力度，进一步提高压电材料的性能。如图1所示，压电材料由均匀自发极化的区域（极化域）组成，这些域的极化方向不同。极化域是决定压电材料性能的重要因素。但是对极化域进行微观尺度的观察并不容易。本文为您介绍使用具有纳米级分辨率的扫描探针显微镜［SPM（AFM）］捕捉压电材料微观区域中极化域的案例。

近年来，在质量控制和研发方面，获得物质外表面的信息的需求不断增加，表面分析的重要性与日俱增。表面分析的方法有很多种，各种方法可分析的元素和分析深度存在差异，需要根据测定对象选择合适的方法。XPS（X射线光电子能谱分析法：X-ray Photoelectron Spectroscopy）是一种测量固体表面受到软X射线照射时发射的光电子能量的表面分析方法，可进行物质表面元素的定性和定量分析、化学键状态分析。XPS的分析深度为自表面10nm左右，可以获得物质外表面的化学状态信息。本报告中为您介绍使用XPS分析光学晶体上薄膜键合状态的案例。同时，为您介绍不同的分析方法所带来的元素定性、定量结果的差异。

锂离子电池（以下简称为LIB）是一种通过Li+在活性物质结构内脱离、嵌入，对电池进行充电及放电的蓄电池。近年来，LIB已得到广泛的应用，同时针对提升容量、延长寿命、降低成本和提高稳定性也在积极地进行研究。其中，评估作为LIB正极主要组分的活性物质、粘合剂和导电助剂等的分布状态对于提高性能和质量管理都是很重要的。本文中使用电子探针显微分析仪EPMA TM（EPMA-8050G）测定了LIB正极中各元素的分布，并通过比较使用EPMA和SPM（扫描型探针显微镜SPM-9700HT）在相同视场中获得的各分布图像，对LIB正极的导电性进行了评估。

二维材料具有的简单二维结构、特有对称性等特点，使其具有独特的性能，近年来，人们对MoS2等二维材料的研究产生了较大兴趣。二维材料可应用于晶体管、传感器、电极、绝缘体等。在本报告中，使用X射线以及紫外光激发获得了二硫化钼（MoS2）价电子带的光电子能谱。利用Ar团簇离子进行谱图测定，验证了清洁前后样品谱图的差异。进行MoS2薄膜的表面分析，获取了表面性质和键合状态相关的有益信息。

XPS（X射线光电子能谱：X-ray Photoelectron Spectroscopy）作为一种表面分析方法，除了可以对物质表面约10 nm处存在的元素进行定性和定量分析外，还可以分析化学键合状态。该方法在催化剂研究领域，广泛应用于分析催化剂中所含元素的状态。特别地，分析由于热处理和气体反应引起的元素化学键合状态的变化在阐明催化反应机理方面起着很大的作用。在催化剂反应之后将样品取出到大气中并转移到分析装置中时，由于会与大气反应，样品的表面状态可能会发生变化。如果在转移过程中表面化学状态发生变化，则无法在反应后立即观察到表面状态。为了防止样品在转移过程中与大气发生反应，可以选择使用空气敏感样品转移装置。该装置用于将样品转移至XPS仪器中，在手套箱中装样，转移过程中用稀有气体密封，，整个过程中样品不接触大气。本文中将介绍一个例子，使用样品转移装置将在实验室中经还原处理的催化剂样品导入XPS装置并进行测试，而不会暴露于大气中。此外，为了进行比较，将同时给出处理后暴露于大气之后测定的数据。

磁性材料广泛应用于人们的日常生活，对其内部的磁畴结构进行表征，对解析材料的磁性能及开发新型磁性材料均具有重要意义。本文采用扫描探针显微镜（SPM）对磁性材料的磁畴结构进行高分辨率成像，解析其基本特征，为后续研究提供实验支持。

气枪弹测试依据的是国标和公安部通知，司法第三方在出具检测报告时往往也只做出是否为气枪弹的判断，而后来“两高”的司法解释中对于气枪铅弹的认定给出了量刑指示，这就导致了需要对材质进行判断，即不仅需要判断是否是气枪弹还需要认定是否为气枪铅弹。本文测试结果展示了岛津电子探针EPMA可以快速地对材质进行区分和确认，为司法量刑提供科学参考。同时也对比了能谱仪EDS和电子探针EPMA的测试结果，说明了在应对成分复杂的检材时，使用电子探针EPMA可以排除由于能谱仪EDS的灵敏度和分辨率所限导致的假象数据。

通过XPS可以了解材料表面10nm厚度的元素化学态信息，而通过ARXPS可以将分析深度进一步降低到1~3nm。但是ARXPS数据的解析是困难的，本文说明了如何通过MEM软件来对ARXPS数据进行重构得到深度剖析曲线。同时通过Minibeam VI团簇离子枪对表面污染进行去除，研究了表面污染对MEM结果的影响。

X射线光电子能谱（XPS）技术结合氩离子刻蚀技术可以有效对材料表面以及沿深度方向进行测试，以得到材料结构相关信息，不同的刻蚀模式的选择对结果有较大的影响。本文选用非贵金属Ni桥连NiS / g-C₃N₄复合材料，采用XPS技术对材料表面进行表征，结合团簇氩离子刻蚀技术对材料进行深度剖析，判断不同元素的化学状态信息。

磁透镜是现代X射线光电子能谱仪（XPS）的关键部件，但在对磁性样品进行分析时，样品的磁性可能会干扰光电子的运动轨迹。本文选用了两种不同性状的磁性材料，提出了在对磁性材料进行分析时的注意事项，并对磁性材料表面的元素及化学态组成进行了分析。