近年来，高分子材料的功能特性取得了显著进展，现在需要能够定量评估其纳米结构和弹性模量的技术。目前使用扫描探针显微镜［SPM （AFM）］可以对其进行评估，使用岛津SPM-Nanoa的高速物理性质成像可以快速完成样品的力学性质的测定。本文介绍使用SPM-Nanoa和纳米物理性质评估软件“Nano 3D Mapping™Fast”通过快速物理性质成像，对聚乙烯 (PE) 的弹性模量和粘附力分布进行快速和高分辨率可视化的示例。

二维材料界面的电子结构很大程度上决定了器件的性能，通过XPS与UPS可以对二维材料的价带谱进行研究，本文研究了两者的区别，并分析了导致差异的原因。

内核富镍而外层富锰的富镍梯度三元正极材料，兼具高比容量及良好的稳定性及循环性能。本文使用岛津场发射型电子探针，对Ni、Co、Mn元素在某富镍梯度三元正极材料颗粒截面上的面分布特征进行了表征，结果显示颗粒具有明显的层状结构，外层贫镍富锰层厚度约为0.5μm，从外壳到核心，Ni含量逐渐升高，Mn、Co含量逐渐降低。相较于扫描电镜+能谱仪配置，岛津场发射型电子探针可在超大束流下仍能保持较细的束斑直径，可兼顾成像分辨率及元素分析高灵敏度，可对富镍梯度材料进行快速有效表征。

岩石中的矿物记录了岩石形成时的物理和化学信息。此外，人们已经了解到，岩石形成后发生蚀变的变质过程以元素分布和结构的形式保存下来。矿物也被用来做装饰使用，如用于珠宝和园林石的生产中。矿物的成分分析可以确定宝石中的元素分布并分析其微量元素，所获得的信息可用于宝石鉴定、产地确定等。电子探针微量分析仪（EPMA）可用于研究岩石矿物中元素的二维分布。在本文中，我们使用了一个EPMA™, 即电子探针显微分析仪（EPMA-1720HT），对认定含有绿帘石的商用石材（以下简称含绿帘石的石材）进行元素面分析。我们还进行了相分析，用以确定岩石中的矿物，并观察其分布。

压电材料具有在外界压力下产生变形，进而产生电压的特性。充分利用该特性，压电材料可作为传感器、蜂鸣器、滤波器，在各种工业产品中发挥着重要作用。近年来，随着电子设备、通信设备的小型化，需加大研究力度，进一步提高压电材料的性能。压电材料由均匀自发极化的区域（域）组成。如图1所示，这些域在不同方向极化，对施加电压呈现不同的响应。各域的响应是决定压电材料性能的重要因素。而施加电压引起的纳米级变形也并不少见，需要高灵敏度以评估该响应。本文介绍了使用可以检测出亚纳米级响应的扫描探针显微镜［SPM（AFM）］捕获压电材料对施加电压的微弱响应的案例。

离子束溅射清洁技术经常用于去除暴露在空气中的样品表面的吸附污染，亦可用于对薄膜材料的深度分析。本文使用岛津X射线光电子能谱仪（XPS）仪器配备的多模式气体团簇离子源（GCIS）氩离子枪，针对不同类型材料进行清洁/深度分析，并对比了单氩离子模式刻蚀与团簇模式刻蚀对表面元素化学态的影响。结果表明，团簇氩离子刻蚀对材料的破坏更小，能够最大程度保留样品原始信息。

独居石是一种较为常见的副矿物，可以进行地质定年。以独居石为代表的稀土矿物的元素测试在微束分析领域有自身的特点及难点。本文针对稀土矿物独居石的测试难点进行了探讨，并给出了相应的解决方案。最后使用岛津电子探针定量测试了某独居石矿物颗粒，得到了较为理想的测试结果，并通过其中的U、Th、Pb含量的计算得到独居石的矿物年龄。

本文以国家标准《JJG901 电子探针分析仪检定规程》和《GB/T 15075 电子探针分析仪的检测方法》为指导，根据不同分项的测试方法，并结合岛津电子探针特有的软件功能，实现仪器状态的便捷、快速检定。同时，行文探讨了标准中相对比较落伍的流程和指标，以及待更新的一些方法和规范。

本文使用岛津电子探针显微分析仪EPMA-1720依据讨论的检测方法对两类硅酸盐玻璃试样进行了定性谱图的测试解析和微区定量测试，获得了理想的测试结果。针对硅酸盐玻璃的微区成分定量测试难点和分析方法进行了探讨，同时对加速电压的选择和含有电子束照射敏感的碱金属元素测试等注意事项进行了说明。

扫描探针显微镜［SPM（AFM）］作为可以在大气中对纳米线进行高分辨率观察的工具，被广泛应用于纳米颗粒和软材料等领域。近年来，兼具特殊宏观结构和微观结构的材料问世，需要同时对两种结构进行观察。但传统的SPM广域观察存在像素数不足的问题，无法在图像放大时进行高精细分析。本文介绍了使用可实现8K高像素观察的SPM-Nanoa，同时兼顾广域观察和高精细分析的案例。