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测量肥料的TOC及TN

本文介绍使用岛津燃烧式总有机碳分析仪TOC-L和总氮测量单元TNM-L的联用系统同时测量液体肥料及肥料萃取液的TOC(总有机碳)和TN(总氮)测量案例。

利用红外显微镜Mapping功能确认紫外线劣化树脂劣化程度

树脂会因紫外线和热量而出现劣化。但是从外观难以判断其劣化程度至内部的情况。此时,可通过切割截面,使用红外显微镜进行Mapping测定,确认内部劣化的程度。本次介绍的分析方法可通过与可视观察比较,确认各种使用聚丙烯树脂的产品紫外线照射的劣化程度。

X射线荧光光谱法测定工业硅中杂质元素

本文参考GB/T 14849.5-2014《工业硅化学分析方法 第5部分:元素含量的测定 X 射线荧光光谱法》,利用岛津XRF-1800波长色散型X射线荧光光谱仪,采用粉末压片制样方法,测定工业硅中杂质元素含量。利用工业硅标准样品建立相应工作曲线,各杂质元素标准曲线线性良好,平行测定10次,各组分精度良好。方法适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定,满足工业硅生产对杂质成分的检测需求。

富锂锰基正极材料的XRD表征

富锂锰基正极材料xLi2MnO3·(1-x)LiMO2具有低成本和高放电比容量,已经成为下一代锂离子电池正极材料的候选材料之一。本文使用岛津XRD-7000衍射仪测试了富锂锰基正极材料,对得到的衍射谱图进行了物相解析,结合Rietveld精修结果判定该样品为双相复合样品,即单斜富锂相Li2MnO3和三方相LiNiO2。通过Rietveld精修获得了晶胞参数和物相含量,Rwp值为4.8%。这些信息对研究富锂锰基正极材料的晶体结构信息和充放电机理,以及评估掺杂策略、优化制备工艺具有重要意义。

XRD联合EDXRF用于交通事故物证鉴定

本文使用岛津EDXRF和XRD测试了某司法鉴定机构送检的两个油漆样品, EDXRF给出了两个油漆样品元素组成信息,XRD的物相鉴定直接给出了油漆无机填料中元素的赋存状态,即准确定性化合物;两种检测技术能够认定或排除肇事车辆,为案件的侦破提供线索,该方法无需化学前处理,制样和测试均比较简单,测试时间短,且不会破坏样品,可适用于公安司法的物证鉴定。

磷酸铁锰锂正极材料的XRD表征

正交橄榄石型结构的磷酸铁锂正极材料,具有很好的热力学和动力学稳定性,但其放电电位较低,致使能量密度较低;通过部分Mn替代Fe,合成磷酸铁锰锂(LiMnFeO4),能提高放电电位,是当前的研究热点之一。本文使用岛津XRD对某磷酸铁锰锂材料进行了测试,物相鉴定结果表明,该磷酸铁锰锂材料为单一的橄榄石型结构,Mn以固溶的形式存在;使用MAUD软件完成了Rietveld精修得到精确的晶胞参数,结果表明,相对于磷酸铁锂,磷酸铁锰锂晶胞参数在三个方向上均有不同程度的增大,测试结果可为磷酸铁锰锂材料的研发及质量控制提供科学可靠的指导。

固态电解质材料锂镧锆氧的XRD表征

石榴石型Li7La3Zr2O12(LLZO)室温下具有高离子电导率,是最具市场化潜力的固态电解质材料之一。本文使用岛津X射线衍射仪测试了掺Ta锂镧锆氧固态电解质材料,物相解析显示样品为立方相LLZO;完成了Rietveld精修,拟合结果良好,Rwp值为6.1%,通过Rietveld精修得到晶胞参数为1.29327nm,该参数与锂镧锆氧材料电化学性能密切相关;本文可为锂镧锆氧电解质材料的研发和生产质量控制提供参考。

三元前驱体溶液中有机物残留分析

三元前驱体溶液以镍盐、钴盐、锰盐为原料制备,镍盐和钴盐在制备过程中常用有机溶剂作为萃取剂,少量的有机物残留会造成前驱体颗粒无法生长,形貌非球形,从而严重影响锂离子电池的性能。本文使用岛津TOC-L总有机碳分析仪直接测定了三元前驱体溶液中总有机碳(TOC)的含量,间接测定了有机物残留量。实验结果表明,该方法操作简便,分析速度快,重现性好,6次重复测试的RSD<2%,准确度高,加标回收率为95.8%,可以为锂电材料生产工艺监控提供参考。

HPLC-ICP-MS测定塑料中的六价铬含量

参考国家标准GB/T 38287-2019《塑料材料中六价铬含量的测定》,使用岛津高效液相色谱LC-20Ai与电感耦合等离子体质谱仪ICPMS-2030系列联用,测定了聚乙烯塑料样品中六价铬的含量。实验结果表明,进样体积为20 μL时,方法检出限为0.22 mg/kg;低、中、高浓度加标回收率介于102%~104%之间,回收率良好。该方法稳定性好,线性范围广、抗干扰能力强,适用于塑料及其制品中六价铬含量的检测。

粉末压片-X射线荧光光谱法测定铁矿石中铁元素

本文将自制的铁矿石控制样品用粉末压片法制样,使用岛津MXF-N3 Plus多道同时X射线荧光光谱仪测量元素荧光X射线强度,建立TFe元素校准曲线,实现对铁矿石中铁元素的X射线荧光光谱分析。此法分析铁矿石样品,荧光分析值与化学值对比能够达到±0.30以内,满足矿山开采过程中快速分析的需求。

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