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AA-7800测定水样中钴元素含量

本文参考《水质 钴的测定 火焰原子吸收分光光度法》(HJ957-2018)及《水质 钴的测定 石墨炉原子吸收分光光度法》(HJ958-2018),使用岛津AA-7800型原子吸收光谱仪建立了测定环境水样中钴元素含量的方法。实验结果表明,该方法标准曲线线性良好(r>0.9996),测定结果准确,加标回收率在91.3~102.4%之间,重复性良好(RSD<0.88%,n=3),适用于环境水样中Co元素含量的测定。

AA-7800测定工作场所空气中砷及其无机化合物

本文参考GBZ/T 300.47-2017《工作场所空气有毒物质测定 第47部分:砷及其无机化合物》,使用岛津HVG-100氢化物发生器、岛津AA-7800型原子吸收光谱仪建立了测定空气中砷元素含量的方法。实验结果表明,该方法标准曲线线性良好(r>0.9996),测定结果准确,加标回收率在101.9~103.6%之间,重复性良好(RSD<4.42%,n=3),适用于工作场所空气中砷及其无机化合物的测定。

使用FTIR光谱法测定单克隆抗体的蛋白质二级结构

单克隆抗体(mAb)因其在医学和生物科学中的广泛应用而成为一大类生物药物。抗体的生物活性可归因于其独特的形态结构。蛋白质高序结构(HOS)包括构成蛋白质三维结构的二级、三级和四级蛋白质结构。mAb的HOS分析对于确保蛋白质治疗产品的质量和有效性至关重要。已用于表征蛋白质HOS的一些分析方法包括紫外圆形二色性、核磁共振(NMR)和傅里叶变换红外(FTIR)光谱。FTIR光谱适用于测定蛋白质不同二级结构的相对量。可以从IR光谱中蛋白质的酰胺谱带I中获得该信息,范围为1600cm-1到1700cm-1。可应用带曲线拟合和二阶导数等数学程序来解析重叠的酰胺谱带I成分,并量化蛋白质的二级结构。在本应用新闻中,使用FTIR光谱和谱带曲线拟合数据分析检查mAb的二级结构。

实现高速物理性质成像! 快速且高像素的力学性质可视化

近年来,高分子材料的功能特性取得了显著进展,现在需要能够定量评估其纳米结构和弹性模量的技术。目前使用扫描探针显微镜[SPM (AFM)]可以对其进行评估,使用岛津SPM-Nanoa的高速物理性质成像可以快速完成样品的力学性质的测定。本文介绍使用SPM-Nanoa和纳米物理性质评估软件“Nano 3D Mapping™Fast”通过快速物理性质成像,对聚乙烯 (PE) 的弹性模量和粘附力分布进行快速和高分辨率可视化的示例。

联合XRF和XRD分析盐卤成分

天然卤水制得的盐卤中富含K、Na、Mg、Li、B等元素,是重要的工业化工原料。本文使用岛津XRF和XRD联合分析了两个盐湖盐卤样品,XRF给出了盐卤样品元素组成信息,XRD的物相鉴定直接给出了盐卤样品中元素的赋存状态,即准确定性化合物,两种检测技术从不同角度给出了样品的组分信息。该方法无需化学前处理,制样和测试均比较简单,测试时间短,可快速了解盐卤的成分组成,为提高盐卤资源利用率奠定了基础,可供盐卤化工行业从业者参考。

X射线荧光光谱法测定碳质材料中杂质元素

本文利用岛津XRF-1800波长色散X射线荧光光谱仪,采用玻璃熔片法制样,建立了测定工业硅生产用碳质材料中杂质元素的方法。碳质材料经灼烧除碳,杂质元素会富集至灰分中,称量一定量的灰分与专用熔剂按一定比例混合,高温熔融制备成玻璃片,用X荧光光谱仪进行测定。碳质材料的灰分与粘土化学成分类似,以粘土标样为基础建立工作曲线,工作曲线线性良好,相关系数r在0.9999以上,此方法可以准确测定碳质材料杂质元素化学成分,满足工业硅生产对碳质材料杂质成分的检测要求。

X射线荧光光谱法分析硫酸铵中的氮含量

化肥中的元素氮对作物生长起着非常重要的作用,有效的实施化肥在作物生长的不同阶段有着不同的作用,所施化肥的量的多少直接关系作物的生长。本文参考SNT 3810-2014《尿素和硫酸铵中氮含量测定X 射线荧光光谱法》标准,使用岛津XRF-1800建立了硫酸铵中氮元素的含量测定方法,该方法对含N量18.5%-21.2%的硫酸铵均可分析,相对偏差小于0.2%。

X射线荧光光谱法测定硅石中杂质元素

本文利用岛津XRF-1800波长色散X射线荧光光谱仪,采用玻璃熔片制样方法,测定了硅石中主要杂质元素。结果表明,Fe2O3、Al2O3、CaO、K2O、Na2O、MnO、TiO2等主要杂质元素标准曲线线性良好,相关系数r均在0.99以上。平行10次测定各组分RSD在10.0%以下,满足工业硅生产对硅石主要杂质成分的检测要求。

岛津XRD快速表征锂电池石墨负极极片取向比

六方结构的石墨作为负极材料中的活性物质,在锂离子电池中有着广泛的应用。石墨为六方层状结构,在极片制备过程中,容易产生择优取向,而取向程度会直接影响锂离子的扩散速率及极片的振实密度。石墨层状结构的取向比(OI)可通过石墨(004)衍射峰与(110)衍射峰的强度比进行快速表征。本文使用岛津XRD对某石墨极片进行了测试,并采用峰强度比I(004)/I(110)计算得到该石墨极片样品取向比OI为2.36,测试结果可为石墨负极极片工艺控制及优化提供科学可靠的指导。

MoS2的价带谱分析

二维材料界面的电子结构很大程度上决定了器件的性能,通过XPS与UPS可以对二维材料的价带谱进行研究,本文研究了两者的区别,并分析了导致差异的原因。

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