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GC法测定工业用乙二醇中8种杂质含量

本文建立了气相色谱仪检测工业用乙二醇中8种杂质含量的分析方法,分析结果表明:在此分析条件下,8种杂质分离良好。参考标准GB/T 14571.2-2018,丙二醇和三乙二醇检出限为0.002%,实际测试得到信噪比大于6,其他6种杂质检出限为0.001%,实际测试信噪比均大于3,满足标准要求。采用浓度为0.025%的标准溶液测试8种杂质的校正因子,并用校正面积归一化法计算5个不同浓度的标准溶液中杂质的含量,与实际配制浓度比较计算回收率,0.01%~0.05%标准溶液回收率为85%~110%,重复实验6次,相对标准偏差均小于5%,回收率和重复性良好。

岛津电子探针在洛阳王作鼎修复中的应用

电子探针作为一种无损检测技术,可用于文物的精确成分分析和元素分布分析。本文利用岛津电子探针显微分析仪对洛阳出土的王作鼎残片进行了微区定性、定量及元素面分析,结果表明样品材质为青铜合金,元素面分析结果显示Pb元素具有偏析现象。测试结果可为王作鼎保护修复方案的制定与实施提供科学依据。

岛津电子探针测试日本出土文物蕨手刀

电子探针作为一种无损、微区分析手段,在文物分析领域有着独特的应用。本文利用岛津电子探针显微分析仪对日本出土的古代蕨手刀中的夹杂物进行了微区分析,背散射电子像显示夹杂物明显由3种相构成,元素面分析对3种相中元素的分布情况做了进一步的表征,而定量分析则对3种夹杂物相各元素含量进行了精确定量,测试结果可为研究人员推测蕨手刀原料矿石及古代精炼工艺提供有价值的参考。

爆炸物的X射线荧光定性-定量分析

过X射线荧光快速无损地对爆炸物进行最早期的定性-定量分析,可以帮助公安司法机关初步快速查明爆炸物的来源提高了效率。而具有高灵敏度、高分辨率且采用了新型硅漂移检测器(SDD) 的岛津EDX-7000能量色散型X射线荧光光谱仪,非常适用于对爆炸物的早期定性-定量分析,操作简单,方便快捷,无需复杂的化学前处理。

动态颗粒图像分析系统iSpect DIA-10测试锂电池正极材料颗粒的粒度、粒形和颗粒圆度

本文使用岛津动态颗粒图像分析系统iSpect DIA-10建立了测试锂电池正极材料颗粒粒度、粒形和圆度的方法。实验结果表明,使用iSpect DIA-10在获取锂电池正极材料中颗粒粒度的同时,还可直接观察颗粒的形状及圆度特征,仪器操作简便,数据稳定,可快速测定锂电池正极材料的颗粒信息。

动态颗粒图像分析系统iSpect DIA-10测试3D打印材料颗粒的粒度、粒形和颗粒圆度

本文使用岛津动态颗粒图像分析系统iSpect DIA-10建立了测试3D打印材料颗粒粒度、粒形和圆度的方法。实验结果表明,使用iSpect DIA-10在获取3D打印材料中颗粒粒度的同时,还可直接观察颗粒的形状及圆度特征,仪器操作简便,数据稳定,可快速测定3D打印材料的颗粒信息。

使用EDX对食品原料中的钠进行定量分析

在食品原料中所含矿物成分及盐分的元素分析中,一般采用原子吸收分光光度法(以下简称AA)。在使用AA分析固形物和粉末时,需要加酸进行消解等化学预处理。与之相比,荧光X射线分析法只通过简单的预处理就可以完成固体、粉体、液体的直接测定,因而正在研究将其作为AA的替代方法使用。AA常用于对食品原料粉末中的钠含量的过程控制。我们使用能量色散型X射线荧光分析仪EDX-8100对该项分析进行了比较研究。使用压片法压片法和粉末直接分析法(以下简称粉末法)这两种前处理方法,其分析结果与AA结果之间均得到了良好的相关性。

建立SPM的新测量方法 ZXY测量-克服不擅长的测量

为保证探针‐样品之间恒定的相互作用力,SPM一般采用对样品表面进行扫描的“XY测量”方法获取数据。XY测量具有扫描速度快、平面分辨率高的特点,是各种测量模式的基础。但是,SPM同时也存在对“广视野”、“柔软样品”、“起伏大的样品” 测量困难的缺点。我们已经成功开发了“ZXY测量”以克服这些缺点,现报告如下。

浅间山火山岩的元素面分布特征分析

岩石中所含的矿物记录了岩石形成过程中的物理和化学信息。因此,通过详细研究元素的浓度分布,可以了解岩石的受热历史和成因。在这里,使用电子束显微分析仪EPMA™(EPMA-1720HT)对浅间山的火山岩进行了元素面分布特征分析。薄片试样由东京大学研究生院理学系研究科地球行星科学专业理学技术部技术负责人吉田英人先生提供。

无铅焊料中的细小Ag颗粒分析

近年来,在电子工业中,随着电子部件的小型化和无铅焊料的普及,焊接技术变得越来越重要。本次结合使用电子探针显微分析仪EPMA™(EPMA-8050G)对通过无铅焊料(Sn-3.0Ag-0.5Cu)封装的印刷电路板焊接部分进行分析的示例,为您介绍FE-EPMA所独有的高分辨率X射线图像以及改变加速电压时的微粒子分布差异情况。

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