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G1/Q82.GC软件中如何手动输入校正因子建立校正面积归一化法

G1/A82.将LabSolutions校正面积归一化法-手动输入校正因子操作流程发送给用户

关键词：手动输入校正因子

L1/Q195.GPC普适法校正时K和α值如何得到

L1/A195.可以色谱或聚合物手册查找，如《Polymer Handbook》，或者使用粘度计测定两个或以上的标样的粘度，根据[η]=KM^α计算得到。

关键词： GPC

L3/Q30. GPC样品分析的结果与其他仪器计算得到的结果不一致，存在严重的偏差

L3/A30. 检查计算方法是否合适。对于窄分布校正法样品最好与标样是相同的结构，这时无需进行校正；样品结构与标样结构不一样，并且样品是单链结构，则可以用QF因子比来修正结果；其他情况则需要采用普适校正法，计算时需要设定样品及标样在流动相溶剂中的K和α值，K和α的值可用黏度法来测定或查找手册。

关键词： GPC 窄分布标样校正法普适校正法

G1/Q46. 如何在GCMSsolution软件里使用AART功能校正目标物的保留时间？

G1/A46. 操作步骤如下：（1）采集正构烷烃及目标物数据；（2） GCMS再解析，打开正构烷烃数据，正确识别正构烷烃并填入其保留指数（C数*100），通过创建组分表、加载方法、峰积分在参数栏和结果栏中均显示组分信息；（3）打开目标物数据，点击“创建组分表”中“向导(修改)”，选择“修改保留指数”，并加载正构烷烃数据，一步步完成向导后，目标物的保留指数通过软件自动计算出来。保存该数据文件，并另存方法文件为“AART”。（4）打开正构烷烃数据，点击“创建组分表”中“调整保留时间[AART]”，加载刚才保存的方法文件“AART”，则目标物的保留时间被自动校正过来，保存该方法文件。

关键词： GCMSsolution 保留指数 AART

U3/Q18. 紫外积分球测试雾度和雾度计测试结果差异较大，如何解决？

U3/A18. 差异较大的原因是积分球的开口率不同。雾度标准上要求积分球开口率小于4%，而UV2600透射处开口率为7.6%。解决方法为：选择同一类样品，比如都是玻璃样品，分别用紫外积分球和雾度计测试，以雾度计测试为准，紫外积分球测试数据乘以一个系数加以校正。其他类的样品也用此方法校正。

关键词：雾度测试校正

L1/Q50. LC-2010如何实现波长校正？

L1/A50. 在面板的初始界面选择VP键，进入波长检查校正界面，按照提示进行操作。

关键词： LC-2010，波长校正

L3/Q16. GPC测试肝素钠的分子量是用到窄分布还是普适校正法？

L3/A16. 用户在进行肝素钠分子量测定时，标准品也是肝素钠。所以可以用到窄分布法进行校准，在建立校准曲线的过程中需要至少8个点的肝素钠标准品。

关键词： GPC 肝素钠

A3/Q4. 测试样品多，数据发生漂移如何处理？

A3/A4. 每隔一定数量样品后，在MRT工作单中添加“Reslope”功能对曲线斜率进行重新校正。

关键词：漂移校正

I3/Q19. ICP分析中的干扰有哪些，如何解决？

I3/A19. （1）物理干扰：因物理特性的变化而产生的分析上的干扰称作物理干扰。由于ICP光谱分析的试样为溶液状态，因此溶液的粘度、比重及表面张力等均对雾化过程、雾滴粒径、气溶胶的传输以及溶剂的蒸发等都有影响，而粘度又与溶液的组成，酸的浓度和种类及温度等因素相关。解决办法：采用内标校正法可适当地补偿物理干扰的影响，基体匹配或标准加入法能有效消除物理干扰。（2）电离干扰：当在样品中共存有Na、K、Ca等易离子化的元素时，电离平衡发生偏移，发射光谱强度变化，原子线强度增加，离子线强度减少，由此产生的干扰称作离子化干扰。解决办法：加入电离缓冲剂或使用标准加入法。（3）基体干扰：基体效应来源等离子体，对于任何分析线来说，这种效应与谱线激发电位有关，但由于ICP具有良好的检出能力，分析溶液可以适当稀释，使总盐量保持在1mg/mL左右，在此稀溶液中基体干扰往往是无足轻重的；当基体物质的浓度达到几mg/mL时，则不能对基体效应完全置之不顾。相对而言，轴向观察ICP光源的基体效应要稍严重些。解决办法：采用基体匹配、分离技术或标准加入法可消除或抑制基体效应。（4）分光干扰：共存物质的分光学原因引起的测定元素的发射光谱强度变动所产生的干扰称为分光干扰。解决办法：扣背景，选择另外一条没干扰的谱线作为分析线，对于必须使用有干扰的谱线情况，可以使用干扰因子校正法（IEC）进行校正。

关键词：干扰校正

I3/Q17. 什么是IEC校正，在什么情况下用？

I3/A17. IEC校正又叫干扰元素校正，当待测元素各分析线均有干扰，如以下情况：

或者当元素浓度很低，必须使用最灵敏线进行测试而该分析线又存在谱线干扰时，可以使用IEC校正。原理是：配制干扰元素的标样，测量其在待测元素干扰分析线上的干扰强度，以及干扰元素在其自身分析线下的强度，测定样品时，测到样品中干扰元素其自身分析线下的强度，软件会根据测得的这三个强度自动算出样品中干扰元素在待测元素分析线下的干扰强度，然后计算校正系数
校正结果 = 分析元素测定值 – 干扰元素测定值 × 干扰系数
具体的操作可参考软件操作说明书。

关键词： IEC校正干扰系数校正

I2/Q5. 波长校正多长时间做一次，波长校正不通过是什么原因？

I2/A5. 严格来说应该是每次点火后待仪器稳定后做一次波长校正，一般每天开机后做一次就可以了，如果轮廓峰尖偏得比较大可以再次做一下波长校正。波长校正后ICPS-7510的S值应小于50，ICPS-8100的S值应小于0.005，ICPE-9000，检查[status]和[Judge Value]status列应显示normal，Judge value应小于2，但根据测定条件不同，可能无法正常检测某些波长，只要能正常测定10条以上的波长，仪器校准即可通过。如果发现波长校正不通过，请确认仪器真空度是否达标，然后更换新的超纯水再重新校正，如果还不通过，请检查雾化器和炬管是否有堵塞，然后对整个进样系统进行清洗，确认矩管与冷锥是否同心，检查冷却套里的反射镜是否脏了、腐蚀或有刮痕。

关键词：波长校正

I1/Q1. ICP为什么有标准曲线的漂移校正，如何做漂移校正？

I1A1. 在测定过程中，随着环境温度、仪器电子元件长时间工作、电压变化、气体压力改变等诸多因素都会使灵敏度发生漂移，因此如果样品测定量大时，每隔一定数量的样品（如每隔20个样品）做一次漂移校正。具体操作方法：在“登记校正样品”对话框中点击“漂移校正”，再点击“从标准曲线中自动登记”，此时在登记样品的对话框的“自动插入样品”中会自动生成“DC1 DC2”两行，点击确定之后，在分析测定的工作表中在初始状态下是看不到用于做漂移校正的两行的，但当测到指定的样品数量后会在表中自动插入。

关键词：漂移校正 ICP

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